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1. (WO2018066868) DEVICE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL SHAPE AND METHOD FOR MEASURING SAME
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Pub. No.:    WO/2018/066868    International Application No.:    PCT/KR2017/010667
Publication Date: 12.04.2018 International Filing Date: 27.09.2017
IPC:
G01B 11/25 (2006.01), H04N 5/232 (2006.01), H04N 13/02 (2006.01)
Applicants: LEE, Keyong Ja [KR/KR]; (KR).
CHOI, Su Yeon [KR/KR]; (KR).
CHOI, Su Heyong [KR/KR]; (KR)
Inventors: LEE, Keyong Ja; (KR).
CHOI, Su Yeon; (KR).
CHOI, Su Heyong; (KR)
Agent: LEE, Jae Man; (KR)
Priority Data:
10-2016-0127505 04.10.2016 KR
Title (EN) DEVICE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL SHAPE AND METHOD FOR MEASURING SAME
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE FORME TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CETTE DERNIÈRE
(KO) 3차원 형상 측정 장치 및 그의 측정 방법
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to a device for measuring a three-dimensional shape and a method for measuring the same. A device for measuring a three-dimensional shape according to an embodiment of the present invention comprises: an image control portion comprising a camera for controlling, in connection with a target object to be measured, a variable magnification image of the target object; an image/signal control means comprising an inspection grid pattern portion for setting the type and number of reference magnification images and reference grid patterns projected onto the target object, generating a variable magnification image and a variable magnification grid pattern for precise three-dimensional measurement, and moving the position of a minimum grid pattern such that, by generating a sub grid pattern, inspection grid patterns are generated; a pattern signal generating portion for receiving the inspection grid pattern information and generating a signal waveform for conducting a control such that line light is projected onto the target object according to the inspection grid pattern information; a grid pattern projecting means comprising a pattern projecting portion for generating a grid pattern shape comprising at least one line pattern projected into the target object; an image input means for receiving an image at a cycle synchronized with a two-dimensional grid pattern projected onto the target object; an information processing means for storing the two-dimensional grid patterns generated successively, synthesizing a three-dimensional image using the stored two-dimensional grid patterns, and extracting three-dimensional coordinates; and an output means for displaying initiation of the three-dimensional measurement and image information. The line pattern is generated in the following manner: the line light generates laser light by means of a signal waveform, the laser light is converted into line light by a lens, and the same is reflected at the surface of a micromirror. While an MEMS one-dimensional micromirror rotates by a predetermined angle with reference to a single axis, the line pattern can be controlled such that the line light is generated by controlling the point of time at which a signal waveform is generated, and the line light is emitted to the surface of the one-dimensional micromirror.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure d'une forme tridimensionnelle et un procédé de mesure de cette dernière. Selon un mode de réalisation de la présente invention, un dispositif de mesure d'une forme tridimensionnelle comprend : une partie commande d'image comprenant une caméra permettant la commande, en liaison avec un objet cible à mesurer, d'une image à grossissement variable de l'objet cible ; un moyen de commande d'image/signal comprenant une partie de motif de grille d'inspection permettant le réglage du type et du nombre d'images de grossissement de référence et des motifs de grille de référence projetés sur l'objet cible, la génération d'une image à grossissement variable et d'un motif de grille à grossissement variable pour une mesure tridimensionnelle précise et le déplacement de la position d'un motif de grille minimum de telle manière que, par la génération d'un motif de sous-grille, des motifs de grille d'inspection soient générés ; une partie génération de signal de motif permettant la réception des informations de motif de grille d'inspection et la génération d'une forme d'onde de signal afin d'exécuter une commande de manière que la lumière de ligne soit projetée sur l'objet cible en fonction des informations de motif de grille d'inspection ; un moyen de projection de motif de grille comprenant une partie de projection de motif permettant la génération d'une forme de motif de grille comprenant au moins un motif de ligne projeté dans l'objet cible ; un moyen d'entrée d'image permettant la réception d'une image à un cycle synchronisé avec un motif de grille bidimensionnel projeté sur l'objet cible ; un moyen de traitement d'informations permettant la mémorisation des motifs de grille bidimensionnels générés successivement, la synthèse d'une image tridimensionnelle à l'aide des motifs de grille bidimensionnels mémorisés et l'extraction de coordonnées tridimensionnelles ; et un moyen de sortie permettant l'affichage du lancement de la mesure tridimensionnelle et d'informations d'image. Le motif de ligne est généré de la manière suivante : la lumière de ligne génère une lumière laser au moyen d'une forme d'onde de signal, la lumière laser est convertie en lumière linéaire par une lentille et cette dernière est réfléchie à la surface d'un micromiroir. Pendant qu'un micromiroir unidimensionnel MEMS tourne selon un angle prédéterminé par rapport à un axe unique, le motif de ligne peut être commandé de manière que la lumière de ligne soit générée par la commande du moment auquel une forme d'onde de signal est générée, et que la lumière de ligne soit émise vers la surface du micromiroir unidimensionnel.
(KO)본 발명은 3차원 형상 측정 장치 및 그의 측정 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 3차원 형상 측정 장치는, 측정하고자 하는 대상물체에 상기 대상물체의 가변배율 영상을 제어하는 카메라를 포함하는 영상제어부; 기준 배율영상 및 상기 대상물체에 투영하는 기준 격자패턴의 유형 및 개수를 설정하고, 정밀한 3차원 측정을 위해 가변배율 영상 및 가변배율 격자패턴을 생성하며, 최소 격자패턴의 위치를 이동하여 서브 격자패턴을 생성하여 검사 격자패턴들을 발생하는 검사격자 패턴부를 포함하는 영상 및 신호제어수단; 상기 검사 격자패턴 정보를 수신하고, 상기 검사 격자패턴 정보에 따라 상기 대상물체에 라인광이 투영되도록 제어하기 위한 신호파형을 생성하는 패턴신호 발생부; 상기 대상물체에 투영되는 하나 이상의 라인패턴으로 구성된 격자패턴 형상을 생성하는 패턴투영부를 포함하는 격자패턴 투영수단; 상기 대상물체에 투영된 2차원 격자패턴과 동기화된 주기에 영상을 수신하는 영상입력수단; 순차적으로 발생된 상기 2차원 격자패턴들을 저장하고, 저장된 상기 2차원 격자패턴들을 이용하여 3차원 영상을 합성하여 3차원 좌표를 추출하는 정보처리수단; 및 상기 3차원 측정의 개시 및 영상정보를 디스플레이하는 출력수단을 포함하고, 상기 라인패턴은 상기 라인광이 신호파형에 의해 레이저 광을 생성하고, 상기 레이저 광이 렌즈의 의해 라인광으로 변환되며, 마이크로미러의 표면에 반사되어 생성되며, MEMS 일차원 마이크로미러가 단일 축에 따른 소정의 각도로 회전하는 동안, 상기 라인패턴의 제어는 신호파형의 발생 시점 제어에 의해 상기 라인광이 생성되고, 상기 라인광이 상기 일차원 마이크로미러 표면에 조사되도록 제어할 수 있다.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Korean (KO)
Filing Language: Korean (KO)