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1. (WO2018066212) ESTIMATION DEVICE AND ESTIMATION DEVICE CONTROL METHOD
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Pub. No.:    WO/2018/066212    International Application No.:    PCT/JP2017/027146
Publication Date: 12.04.2018 International Filing Date: 27.07.2017
IPC:
G01J 3/51 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01)
Applicants: SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522 (JP)
Inventors: ONISHI, Junya; (--).
NUNOKAWA, Takashi; (--).
OKUMURA, Tetsuya; (--)
Agent: HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041 (JP)
Priority Data:
2016-197469 05.10.2016 JP
Title (EN) ESTIMATION DEVICE AND ESTIMATION DEVICE CONTROL METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ESTIMATION ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE DISPOSITIF D'ESTIMATION
(JA) 推定装置、および推定装置の制御方法
Abstract: front page image
(EN)The present invention accurately estimates the spectral reflectance of an object of measurement. This estimation device (1) is provided with a spectral emissivity estimation unit (22) for using known spectral characteristic values, the pixel values of a reference object image, the spectral reflectance of a reference object (200), and spectral emissivity statistical information to estimate the spectral emissivity of a light source used when imaging an object (100) and with a spectral reflectance estimation unit (23) for estimating the spectral reflectance of an object imaged by an imaging unit (10) using the estimated spectral emissivity.
(FR)La présente invention estime avec précision la réflectance spectrale d'un objet de mesure. Ce dispositif d'estimation (1) est pourvu d'une unité d'estimation d'émissivité spectrale (22) destinée à utiliser des valeurs de caractéristique spectrale connues, les valeurs de pixel d'une image d'objet de référence, la réflectance spectrale d'un objet de référence (200) et des informations statistiques d'émissivité spectrale pour estimer l'émissivité spectrale d'une source de lumière utilisée lors de l'imagerie d'un objet (100) et d'une unité d'estimation de réflectance spectrale (23) destinée à estimer la réflectance spectrale d'un objet imagé par une unité d'imagerie (10) à l'aide de l'émissivité spectrale estimée.
(JA)撮像対象の分光反射率を精度良く推定する。推定装置(1)は、既知の分光特性値と、基準対象物画像の画素値と、基準対象物(200)の分光反射率と、分光放射率統計情報と、を用いて、対象物(100)の撮像時に用いられる光源の分光放射率を推定する分光放射率推定部(22)と、推定した分光放射率を用いて、撮像部(10)が撮像した対象物の分光反射率を推定する分光反射率推定部(23)と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)