WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018062242) INSPECTION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/062242    International Application No.:    PCT/JP2017/034896
Publication Date: 05.04.2018 International Filing Date: 27.09.2017
IPC:
G01N 21/88 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01), G01B 11/26 (2006.01), G01C 3/06 (2006.01)
Applicants: DENSO CORPORATION [JP/JP]; 1-1, Showa-cho, Kariya-city, Aichi 4488661 (JP)
Inventors: MIYAGAKI, Katsuhiro; (JP).
NAKAMURA, Kohei; (JP).
HORIGUCHI, Masaru; (JP).
KATO, Shinji; (JP).
IWATSUKI, Hiroyuki; (JP)
Agent: KAMATA, Toru; (JP).
TSUDA, Takuma; (JP)
Priority Data:
2016-190102 28.09.2016 JP
Title (EN) INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D’INSPECTION
(JA) 検査装置
Abstract: front page image
(EN)The purpose of the present invention is to provide an inspection device capable of inspecting, with high precision, an object to be inspected, even when a worker cannot ensure a prescribed angle and a prescribed distance with respect to the object to be inspected. The inspection device (1) according to the present invention is provided with: an image acquisition unit (501) that acquires image data including the object (3) which is to be inspected and the image of which is captured by wearable cameras (20A, 20B, 20); a deviation information acquisition unit (502) which acquires, from the image data, deviation information for calculating at least one among a deviation distance from a defined distance and a deviation angle from a defined angle with respect to the object (3) to be inspected; and an image calibration unit (503) which calculates at least one among the deviation distance and the deviation angle on the basis of the image data and the deviation information, and calibrates the image data.
(FR)L’objectif de la présente invention est de fournir un dispositif d’inspection permettant d’inspecter, avec une précision élevée, un objet à inspecter, même lorsqu’un travailleur ne peut pas garantir un angle prescrit et une distance prescrite par rapport à l’objet à inspecter. Le dispositif d’inspection (1) selon la présente invention est pourvu de : une unité d’acquisition d’image (501) qui acquiert des données d’image comprenant l’objet (3) qui doit être inspecté et dont l’image est capturée par des caméras portables (20A, 20B, 20) ; une unité d’acquisition d’informations d’écart (502) qui acquiert, à partir des données d’image, des informations d’écart pour calculer au moins l’une parmi une distance parmi une distance d’écart par rapport à une distance définie et un angle d’écart par rapport à un angle défini par rapport à l’objet (3) à inspecter ; et une unité d’étalonnage d’image (503) qui calcule au moins l’une parmi la distance d’écart et l’angle d’écart sur la base des données d’image et des informations d’écart, et étalonne les données d’image.
(JA)本発明は、作業員が被検査物に対して所定の角度及び所定の距離を確保できない場合であっても、被検査物の検査を精度良く行うことができる検査装置を提供することを目的とする。 本発明の検査装置(1)は、ウェアラブルカメラ(20A,20B,20)が撮像した被検査物(3)を含む画像データを取得する画像取得部(501)と、画像データにおける被検査物(3)の規定距離からの乖離距離及び規定角度からの乖離角の少なくとも一方を算出するための乖離情報を取得する乖離情報取得部(502)と、画像データと乖離情報とに基づいて、乖離距離及び前記乖離角の少なくとも一方を算出し、画像データを補正する画像補正部(503)と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)