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1. (WO2018061240) INSTRUMENTATION DIAGRAM DATA GENERATION DEVICE, INSTRUMENTATION DIAGRAM SEARCH SYSTEM, AND PROGRAM
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Pub. No.:    WO/2018/061240    International Application No.:    PCT/JP2017/004436
Publication Date: 05.04.2018 International Filing Date: 07.02.2017
IPC:
G06F 17/50 (2006.01), G06F 17/30 (2006.01)
Applicants: MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP)
Inventors: FUKUOKA, Naoya; (JP).
KAWANO, Hiroki; (JP).
UKIANA, Tomooki; (JP).
MEGA, Toshihiro; (JP).
NARUI, Tomohiro; (JP).
SATO, Tomohiro; (JP).
TAKAHASHI, Hiroto; (JP)
Agent: MIZOI INTERNATIONAL PATENT FIRM; 3rd floor, 17-10, Ofuna 2-chome, Kamakura-shi, Kanagawa 2470056 (JP)
Priority Data:
2016-192640 30.09.2016 JP
Title (EN) INSTRUMENTATION DIAGRAM DATA GENERATION DEVICE, INSTRUMENTATION DIAGRAM SEARCH SYSTEM, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE DONNÉES DE DIAGRAMME D'INSTRUMENTATION, SYSTÈME DE RECHERCHE DE DIAGRAMME D'INSTRUMENTATION ET PROGRAMME
(JA) 計装図データ生成装置、計装図検索システム及びプログラム
Abstract: front page image
(EN)A control system analysis unit (12) acquires a correspondence relationship between codes and model numbers from an apparatus table of an instrumentation diagram, and acquires codes, apparatus symbols, and a connection relationship between apparatuses from a drawing of the instrumentation diagram. Subsequently, the control system analysis unit (12) searches an instrumentation apparatus classification database (13) on the basis of the model numbers to acquire an apparatus classification of an apparatus drawn on the drawing, and determines a temperature control system adopted for instrumentation represented in the instrumentation diagram from the apparatus classification and the connection relationship. Further, the determined temperature control system is associated with the instrumentation diagram accumulated in a case database (21). A search processing unit (31) searches the case database (21) on the basis of a temperature control system specified as a search condition, and extracts a corresponding instrumentation diagram.
(FR)Une unité d'analyse de système de commande (12) acquiert une relation de correspondance entre des codes et des numéros de modèles à partir d'une table d'appareils d'un diagramme d'instrumentation, puis acquiert des codes, des symboles d'appareils et une relation de connexion entre des appareils à partir d'un dessin du diagramme d'instrumentation. Ensuite, l'unité d'analyse du système de commande (12) effectue une recherche dans une base de données de classification d'appareils d'instrumentation (13) d’après les numéros de modèle afin d’acquérir une classification d'un appareil tracé sur le dessin, puis détermine un système de commande de température adapté à l’instrumentation représentée dans le diagramme d'instrumentation à partir de la classification d'appareil et de la relation de connexion. De plus, le système de commande de température déterminé est associé au diagramme d'instrumentation cumulé dans une base de données de cas (21). Une unité de traitement de recherche (31) effectue une recherche dans la base de données de cas (21) d'après un système de commande de température spécifié en tant que condition de recherche, puis extrait un diagramme d'instrumentation correspondant.
(JA)制御方式解析部(12)は、計装図の機器表から記号と型番の対応関係を取得し、計装図の図面から記号と機器シンボル及び機器間の接続関係を取得する。続いて、制御方式解析部(12)は、型番に基づき計装機器分類データベース(13)を検索して当該図面に描画されている機器分類を取得し、その機器分類と接続関係から計装図に表記されている計装に採用された温度制御方式を判定する。そして、その判定した温度制御方式を事例データベース(21)に蓄積される当該計装図に紐付ける。検索処理部(31)は、検索条件として指定された温度制御方式に基づき事例データベース(21)を検索することで該当する計装図を抽出する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)