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1. (WO2018059090) TOUCH CONTROL SUBSTRATE SHADOW ELIMINATION DETECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD, TOUCH CONTROL SUBSTRATE AND TOUCH CONTROL DEVICE
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Pub. No.:    WO/2018/059090    International Application No.:    PCT/CN2017/093647
Publication Date: 05.04.2018 International Filing Date: 20.07.2017
IPC:
G06F 3/044 (2006.01)
Applicants: BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; No. 10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015 (CN).
HEFEI XINSHENG OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Xinzhan Industrial Park Hefei, Anhui 230012 (CN)
Inventors: FAN, Wenjin; (CN).
ZHANG, Lei; (CN).
KUO, Tsung Chieh; (CN).
LIU, Yang; (CN).
LV, Kui; (CN)
Agent: ZHONGZI LAW OFFICE; 7F, New Era Building, 26 Pinganli Xidajie, Xicheng District Beijing 100034 (CN)
Priority Data:
201610868054.9 30.09.2016 CN
Title (EN) TOUCH CONTROL SUBSTRATE SHADOW ELIMINATION DETECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD, TOUCH CONTROL SUBSTRATE AND TOUCH CONTROL DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉLIMINATION D'OMBRE DE SUBSTRAT DE COMMANDE TACTILE, PROCÉDÉ DE FABRICATION, SUBSTRAT DE COMMANDE TACTILE ET DISPOSITIF DE COMMANDE TACTILE
(ZH) 触控基板消影检测方法及制造方法、触控基板及触控装置
Abstract: front page image
(EN)A touch control substrate shadow elimination detection method, a touch control substrate manufacturing method, a touch control substrate and a touch control device. The touch control substrate shadow elimination detection method comprises: testing differences in light reflectivity of testing blocks located in an area outside a touch control area of a touch control substrate and having different structures (201); determining touch control substrate shadow elimination effects according to said differences; each testing block of the testing blocks having different structures respectively comprises a structure corresponding to a different structure in the touch control region (202).
(FR)Procédé de détection d'élimination d'ombre de substrat de commande tactile, procédé de fabrication de substrat de commande tactile, substrat de commande tactile et dispositif de commande tactile. Le procédé de détection d'élimination d'ombre de substrat de commande tactile comprend : le test de différences de réflectivité de lumière de blocs de test situés dans une zone à l'extérieur d'une zone de commande tactile d'un substrat de commande tactile et ayant des structures différentes (201) ; et la détermination d'effets d'élimination d'ombre de substrat de commande tactile en fonction desdites différences, chacun des blocs de test ayant des structures différentes comprenant respectivement une structure qui correspond à une structure différente dans la région de commande tactile (202).
(ZH)一种触控基板消影检测方法、触控基板制造方法、触控基板以及触控装置,该触控基板消影检测方法包括:测试位于触控基板的触控区域之外的区域中的具有不同结构的测试块的光反射率的差异(201);以及根据该差异判定触控基板的消影效果;其中,具有不同结构的测试块中的每个测试块包括与触控区域中的不同结构分别对应的结构(202)。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)