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1. (WO2018053483) METHODS, DEVICES, AND SYSTEMS FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPY CONTROL SYSTEM DESIGN
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Pub. No.: WO/2018/053483 International Application No.: PCT/US2017/052213
Publication Date: 22.03.2018 International Filing Date: 19.09.2017
IPC:
G01Q 20/00 (2010.01) ,G01Q 10/00 (2010.01) ,G01Q 60/10 (2010.01) ,G01Q 80/00 (2010.01) ,G21K 5/08 (2006.01) ,G21K 5/10 (2006.01)
Applicants: ZYVEX LABS, LLC[US/US]; 1301 N. Plano Road Richardson, Texas 75081, US
Inventors: MOHEIMANI, Seyed Omid Reza; US
TAJADDODIANFAR, Farid; US
FUCHS, Ehud; US
RANDALL, John; US
BALLARD, Joshua; US
OWEN, James; US
Agent: GRAHAM, Brian; US
BLIKSHTEYN, Dina; US
BROWN, Randall; US
FAISAL, Tanya; US
FOSTER, Theodore; US
FOWLES, Adam; US
HOWARD, Kyle; US
HUH, Gregory; US
JARRATT, Scott; US
JOHNSON, Dustin; US
KELTON, Thomas; US
LI, Eric Q.; US
LOWES, J. Andrew; US
MAUCOTEL, Jordan; US
MCCOMBS, David L.; US
MEACHAM, Taylor; US
NICKOLS, Julie; US
O'DELL, David; US
PARSONS, Michael; US
PATTANI, Pranay; US
VARGHESE, Kelvin; US
WANG, Alan; US
WEBB, Greg; US
WILKINS, Clint; US
Priority Data:
15/707,73818.09.2017US
62/396,70919.09.2016US
Title (EN) METHODS, DEVICES, AND SYSTEMS FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPY CONTROL SYSTEM DESIGN
(FR) PROCÉDÉS, DISPOSITIFS ET SYSTÈMES DE CONCEPTION DE SYSTÈME DE COMMANDE DE MICROSCOPIE À EFFET TUNNEL À BALAYAGE
Abstract: front page image
(EN) Methods, devices, and systems for controlling a scanning tunneling microscope system are provided. In some embodiments, the methods, devices, and systems of the present disclosure utilize a control system included in or added to a scanning tunneling microscope (STM) to receive data characterizing a tunneling current between a tip of the scanning tunneling microscope system and a sample, to estimate, in real-time, a work function associated with the scanning tunneling microscope system, and to adjust, by a control system, a position of the tip based on an estimated work function. Associated systems are described herein.
(FR) La présente invention concerne des procédés, des dispositifs et des systèmes de commande d'un système de microscope à effet tunnel à balayage. Dans certains modes de réalisation, les procédés, les dispositifs et les systèmes de la présente invention utilisent un système de commande inclus dans un microscope à effet tunnel (STM) ou ajouté à ce dernier pour recevoir des données caractérisant un courant de tunnellisation entre une pointe du système de microscope à effet tunnel à balayage et un échantillon, pour estimer, en temps réel, une fonction de travail associée au système de microscope à effet tunnel à balayage, et pour régler, à l'aide d'un système de commande, une position de la pointe sur la base d'une fonction de travail estimée. La présente invention concerne des systèmes associés.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)