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1. (WO2018051353) X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING SAMPLES
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Pub. No.:    WO/2018/051353    International Application No.:    PCT/IL2017/051050
Publication Date: 22.03.2018 International Filing Date: 17.09.2017
IPC:
G01N 23/223 (2006.01), H01J 35/02 (2006.01)
Applicants: SOREQ NUCLEAR RESEARCH CENTER [IL/IL]; Nahal Soreq 81800 Yavne (IL).
SECURITY MATTERS LTD. [IL/IL]; Kibbutz Ketura 8884000 D.N. Hevel Eilot (IL)
Inventors: GROF, Yair; (IL).
KISLEV, Tzemah; (IL).
YORAN, Nadav; (IL).
ALON, Haggai; (IL).
KAPLINSKY, Mor; (IL)
Agent: STADLER, Svetlana; (IL)
Priority Data:
62/396,412 19.09.2016 US
Title (EN) X-RAY FLUORESCENCE SYSTEM AND METHOD FOR IDENTIFYING SAMPLES
(FR) SYSTÈME DE FLUORESCENCE AUX RAYONS X ET PROCÉDÉ D'IDENTIFICATION D'ÉCHANTILLONS
Abstract: front page image
(EN)A control system and method are presented for controlling operation of an X-ray Fluorescent (XRF) system for detecting at least one material carried by a sample, for example at least one marker carried by the sample. The control system comprises: data input utility for receiving input data comprising material/marker related data about said at least one material/marker; and data processor and analyzer utility. The data processor and analyzer utility is configured and operable for analyzing the input data and determining optimal geometrical characteristics of the XRF system for optimizing operational conditions of said XRF system to maximize amount of primary X-ray radiation that reaches a predetermined region of the sample and is absorbed by a volume of said region and to maximize a portion of secondary radiation emitted from said region that reaches a detector of the XRF system; and for generating operational data to the XRF system enabling adjustment of the geometrical characteristics of the XRF system.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé de commande pour la commande du fonctionnement d'un système de fluorescence à rayons X (XRF) pour la détection d'au moins une substance portée par un échantillon, par exemple au moins un marqueur porté par l'échantillon. Le système de commande comprend : un utilitaire d'entrée de données pour la réception de données d'entrée comprenant des données associées à une substance/un marqueur concernant ladite au moins une substance/ledit au moins un marqueur ; et un processeur de données et utilitaire d'analyse. Le processeur de données et utilitaire d'analyse est configuré et utilisable pour l'analyse des données d'entrée et la détermination de caractéristiques géométriques optimales du système XRF pour optimiser les conditions de fonctionnement dudit système XRF et maximiser la quantité de rayons X primaires qui atteint une région prédéterminée de l'échantillon et est absorbée par un volume de ladite région et pour maximiser une partie du rayonnement secondaire émis à partir de ladite région et qui atteint un détecteur du système XRF ; et pour la génération de données opérationnelles destinées au système XRF et permettant un ajustement des caractéristiques géométriques du système XRF.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)