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1. (WO2018048822) DISPLAY ACTIVE ALIGNMENT SYSTEMS UTILIZING TEST PATTERNS FOR CALIBRATING SIGNALS IN WAVEGUIDE DISPLAYS
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Pub. No.:    WO/2018/048822    International Application No.:    PCT/US2017/050150
Publication Date: 15.03.2018 International Filing Date: 06.09.2017
IPC:
G09G 5/00 (2006.01), G02B 27/01 (2006.01)
Applicants: MICROSOFT TECHNOLOGY LICENSING, LLC [US/US]; One Microsoft Way Redmond, Washington 98052-6399 (US)
Inventors: ROBBINS, Steven John; (US).
STEEDLY, Drew Edward; (US).
SAMPLES, Michael Edward; (US).
LIU, Zhiqiang; (US).
JUENGER, Andrew K.; (US)
Agent: MINHAS, Sandip S.; (US).
CHEN, Wei-Chen Nicholas; (US).
DRAKOS, Katherine J.; (US).
HINOJOSA, Brianna L.; (US).
HOLMES, Danielle J.; (US).
SWAIN, Cassandra T.; (US).
WONG, Thomas S.; (US).
CHOI, Daniel; (US).
HWANG, William C.; (US).
WIGHT, Stephen A.; (US).
CHATTERJEE, Aaron C.; (US)
Priority Data:
15/263,220 12.09.2016 US
Title (EN) DISPLAY ACTIVE ALIGNMENT SYSTEMS UTILIZING TEST PATTERNS FOR CALIBRATING SIGNALS IN WAVEGUIDE DISPLAYS
(FR) SYSTÈMES D'ALIGNEMENT ACTIF D'AFFICHAGE UTILISANT DES SÉQUENCES DE TEST POUR ÉTALONNER DES SIGNAUX DANS DES AFFICHAGES DE GUIDE D'ONDES
Abstract: front page image
(EN)A display system includes a display alignment tracker configured track the position of a first signal in a first waveguide and the position of a second signal in a second waveguide. The display alignment tracker optically multiplexes a portion of a first signal and a portion of the second signal into a combined optical signal and measures a differential between the first signal and the second signal. The differential is used to adjust the position, dimensions, or a color attribute of the first signal relative to the second signal.
(FR)L'invention concerne un système d'affichage qui comprend un dispositif de suivi d'alignement d'affichage conçu pour suivre la position d'un premier signal dans un premier guide d'ondes et la position d'un second signal dans un second guide d'ondes. Le dispositif de suivi d'alignement d'affichage multiplexe optiquement une partie d'un premier signal et une partie du second signal en un signal optique combiné et mesure un écart entre le premier signal et le second signal. Cet écart est utilisé pour régler la position, les dimensions, ou un attribut de couleur du premier signal par rapport au second signal.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)