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1. (WO2018043403) DEVICE FOR MEASURING THE QUALITY OF GRAINS
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Pub. No.: WO/2018/043403 International Application No.: PCT/JP2017/030748
Publication Date: 08.03.2018 International Filing Date: 28.08.2017
IPC:
G01N 21/3563 (2014.01) ,G01N 21/359 (2014.01)
[IPC code unknown for G01N 21/3563][IPC code unknown for G01N 21/359]
Applicants:
静岡製機株式会社 SHIZUOKA SEIKI CO., LTD. [JP/JP]; 静岡県袋井市山名町4番地の1 4-1, Yamana-cho, Fukuroi-shi, Shizuoka 4370042, JP
Inventors:
石津 裕之 ISHIZU Hiroyuki; JP
青島 由武 AOSHIMA Yoshitake; JP
福元 義高 FUKUMOTO Yoshitaka; JP
殿柿 章子 TONOGAKI Fumiko; JP
Agent:
越川 隆夫 KOSHIKAWA Takao; JP
Priority Data:
2016-16862330.08.2016JP
Title (EN) DEVICE FOR MEASURING THE QUALITY OF GRAINS
(FR) DISPOSITIF POUR MESURER LA QUALITÉ DE GRAINS
(JA) 穀粒の品質測定装置
Abstract:
(EN) Provided is a device for measuring the quality of grains which is capable of efficiently measuring the quality of grains of various shapes, with high accuracy, by automatically changing the optical path length in accordance with the shape of the grains. The present invention is characterized by being provided with: a hopper which is provided to an upper part of a housing, and into which grains are introduced; an impeller which conveys the grains introduced into the hopper by rotating said grains; a sample measurement unit which is provided below the impeller, and which is capable of accommodating a prescribed amount of grains; a measurement means which optically measures the quality of the grains in the sample measurement unit; and a control device which is capable of changing the optical path length of transmitted light from the measurement means in accordance with the shape of the grains introduced into the hopper. The optical path length is controlled by electrically adjusting the position of an optical path length adjustment member.
(FR) L'invention concerne un dispositif pour mesurer la qualité de grains qui peut mesurer efficacement la qualité de grains de formes diverses, avec une grande précision, par modification automatique de la longueur de chemin optique en fonction de la forme des grains. La présente invention est caractérisée en ce qu'elle comprend : une trémie qui est placée sur une partie supérieure d'un carter et dans laquelle sont introduits des grains ; une roue qui transporte les grains introduits dans la trémie par mise en rotation desdits grains ; une unité de mesure d'échantillon qui est placée sous la roue et qui peut recevoir une quantité prescrite de grains ; un moyen de mesure qui mesure optiquement la qualité des grains dans l'unité de mesure d'échantillon ; et un dispositif de commande qui peut modifier la longueur de chemin optique de la lumière transmise depuis le moyen de mesure en fonction de la forme des grains introduits dans la trémie. La longueur de chemin optique est commandée par réglage électrique de la position d'un élément de réglage de la longueur de chemin optique.
(JA) 穀粒の形態に応じて光路長を自動変更することで、各種形態の穀粒の品質測定を精度良くかつ効率的に行うことが可能な穀粒の品質測定装置を提供する。 筐体の上部に設けられて穀粒が投入されるホッパと、該ホッパ内に投入された穀粒をその回転により搬送するインペラと、該インペラの下方に配設され所定量の穀粒が収容可能な試料測定部と、該試料測定部内の穀粒の品質を光学的に測定する測定手段と、ホッパに投入される穀粒の形態に応じて測定手段による透過光の光路長を変更可能な制御装置と、を備えることを特徴とする。光路長の制御は、光路長調整部材の電動による位置調整で行われる。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)