WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018041761) SURFACE ANALYSIS DEVICE AND METHOD FOR ANALYSING ELASTICITY OF A RECEIVING SURFACE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/041761    International Application No.:    PCT/EP2017/071510
Publication Date: 08.03.2018 International Filing Date: 28.08.2017
IPC:
A61B 5/00 (2006.01), G01N 3/00 (2006.01), G01N 33/483 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 5656 AE Eindhoven (NL)
Inventors: PELSSERS, Eduard Gerard Marie; (NL).
HENDRIKS, Cornelis Petrus; (NL).
HILGERS, Achim; (NL).
JOHNSON, Mark Thomas; (NL).
VAN DEN ENDE, Daan Anton; (NL).
VAN DE MOLENGRAAF, Roland Alexander; (NL)
Agent: MARSMAN, Albert, Willem; (NL).
DE HAAN, Poul, Erik; (NL)
Priority Data:
16186693.4 31.08.2016 EP
Title (EN) SURFACE ANALYSIS DEVICE AND METHOD FOR ANALYSING ELASTICITY OF A RECEIVING SURFACE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE SURFACE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE L'ÉLASTICITÉ D'UNE SURFACE DE RÉCEPTION
Abstract: front page image
(EN)The invention provides a surface analysis device for application to a receiving surface to enable analysis of at least one measure of an elasticity of said surface across multiple different linear stretches or sections of the surface. The device includes a two- dimensional arrangement of actuators and sensors, comprising at least one actuating element, at least one sensing element, and at least one further sensing or actuating element. Selected sets of two or more of these elements are activated together by a controller, each set including at least one actuator and one sensor, to thereby obtain a measure of elasticity between each actuator and sensor pair in the set. Elasticity measures are obtained based on stimulating a deformation in the receiving surface at the actuator site, and measuring a resultant pressure and/or force exerted by the receiving surface at a further displaced point. Sensors may monitor a change in the exerted pressure and/or force for example.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'analyse de surface destiné à être appliqué sur une surface de réception pour permettre l'analyse d'au moins une mesure d'une élasticité de ladite surface à travers de multiples différentes étendues ou sections linéaires de la surface. Le dispositif comprend un agencement bidimensionnel d'actionneurs et de capteurs, comprenant au moins un élément d'actionnement, au moins un élément de détection et au moins un autre élément de détection ou d'actionnement. Des ensembles sélectionnés d'au moins deux de ces éléments sont activés ensemble par un dispositif de commande, chaque ensemble comprenant au moins un actionneur et un capteur, pour obtenir ainsi une mesure d'élasticité entre chaque actionneur et paire de capteurs dans l'ensemble. Des mesures d'élasticité sont obtenues sur la base de la stimulation d'une déformation dans la surface de réception au niveau du site actionneur, et la mesure d'une pression et/ou d'une force résultante exercée par la surface de réception à un autre point déplacé. Des capteurs peuvent surveiller un changement de la pression et/ou de la force exercée par exemple.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)