Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2018041423) CONTROLLING AND MONITORING A PROCESS TO PRODUCE A CHEMICAL, PHARMACEUTICAL OR BIOTECHNOLOGICAL PRODUCT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2018/041423 International Application No.: PCT/EP2017/061303
Publication Date: 08.03.2018 International Filing Date: 11.05.2017
IPC:
G05B 19/418 (2006.01)
G PHYSICS
05
CONTROLLING; REGULATING
B
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
19
Programme-control systems
02
electric
418
Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control (DNC), flexible manufacturing systems (FMS), integrated manufacturing systems (IMS), computer integrated manufacturing (CIM)
Applicants:
SARTORIUS STEDIM BIOTECH GMBH [DE/DE]; August-Spindler-Str. 11 37079 Göttingen, DE
Inventors:
GRIMM, Christian; DE
BECKER, Mario; DE
BÖTTCHER, Lars; DE
THORSTEN, Adams; DE
Agent:
MÜLLER-BORÉ & PARTNER PATENTANWÄLTE PARTG MBB; Friedenheimer Brücke 21 80639 München, DE
Priority Data:
16001899.031.08.2016EP
Title (EN) CONTROLLING AND MONITORING A PROCESS TO PRODUCE A CHEMICAL, PHARMACEUTICAL OR BIOTECHNOLOGICAL PRODUCT
(FR) COMMANDE ET SURVEILLANCE D'UN PROCESSUS POUR FABRIQUER UN PRODUIT CHIMIQUE, PHARMACEUTIQUE OU BIOTECHNOLOGIQUE
Abstract:
(EN) A computer system and computer-implemented method are described for controlling and monitoring a process to produce a chemical, pharmaceutical or biotechnological product, the method comprising: providing a database, the database storing sets of process parameters to control and monitor respective ones of a plurality of processes performed in order to produce products, wherein each of the stored sets of process parameters is associated with a successful trajectory of a respective one of the processes performed according to the respective set process parameters, wherein each successful trajectory is a time-based profile of measurements recorded during performance of the respective process; receiving a set of characterizing process parameters that characterize the process; identifying a first set process parameters from the stored sets of process parameters, the first set of process parameters having a specified degree of similarity to the set of characterizing process parameters, wherein the first set of process parameters is associated with a first successful trajectory, controlling and monitoring the process using the first successful trajectory, comprising: recording measurements of the process; estimating a trajectory of the process based on the recorded measurements.
(FR) La présente invention se rapporte à un système informatique et à un procédé mis en œuvre par ordinateur qui permettent de commander et de surveiller un processus pour fabriquer un produit chimique, pharmaceutique ou biotechnologique, le procédé consistant : à utiliser une base de données, la base de données mémorisant des ensembles de paramètres de processus pour commander et surveiller des processus respectifs choisis parmi plusieurs processus exécutés afin de fabriquer des produits, chacun des ensembles de paramètres de processus mémorisés étant associé à une trajectoire réussie d'un processus respectif parmi les processus exécutés selon l'ensemble de paramètres de processus respectif, chaque trajectoire réussie étant un profil temporel de mesures enregistrées lors de l'exécution du processus respectif ; à recevoir un ensemble de paramètres de processus de caractérisation qui caractérisent le processus ; à identifier un premier ensemble de paramètres de processus à partir des ensembles de paramètres de processus mémorisés, le premier ensemble de paramètres de processus ayant un degré de similarité spécifié avec l'ensemble de paramètres de processus de caractérisation. Le premier ensemble de paramètres de processus est associé à une première trajectoire réussie, la commande et la surveillance du processus à l'aide de la première trajectoire réussie consistant : à enregistrer des mesures du processus ; à évaluer une trajectoire du processus sur la base des mesures enregistrées.
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)