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1. (WO2018034343) OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD
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Pub. No.:    WO/2018/034343    International Application No.:    PCT/JP2017/029638
Publication Date: 22.02.2018 International Filing Date: 18.08.2017
IPC:
G01N 21/27 (2006.01)
Applicants: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Saiwai-cho, Takamatsu-shi, Kagawa 7608521 (JP)
Inventors: ISHIMARU, Ichiro; (JP)
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
2016-161493 19.08.2016 JP
Title (EN) OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES
(JA) 光学特性測定装置及び光学特性測定方法
Abstract: front page image
(EN)The present invention is provided with: a light source 30 for irradiating a sample 20 with light; a standing wave formation unit 40 for forming, in the sample 20, acoustic standing waves perpendicular to the surface of the sample 20, with nodes being located a predetermined distance on the inside from the surface of the sample 20, on which the light from the light source 30 is incident; a detector 50 which is arranged on the same side as the light source 30 with respect to the surface of the sample 20, and which is for detecting light emitted from the surface of the sample 20; and an absorbance calculation unit 74 for finding the absorbance, which is an optical characteristic of the sample, from a detection result of the detector 50 for when the surface of the sample 20 is irradiated with the light in a state where acoustic standing waves are being formed in the sample 20 by the standing wave formation unit 40, and a detection result of the detector 50 for when the surface of the sample 20 is irradiated with the light in a state where acoustic standing waves are not being formed in the sample 20.
(FR)La présente invention comprend : une source de lumière 30 servant à irradier un échantillon 20 avec de la lumière ; une unité de formation d'ondes stationnaires 40 servant à former, dans l'échantillon 20, des ondes stationnaires acoustiques perpendiculaires à la surface de l'échantillon 20, les nœuds étant situés à une distance prédéfinie, sur l'intérieur, à partir de la surface de l'échantillon 20, sur laquelle la lumière émise par la source de lumière 30 est incidente ; un détecteur 50 qui est situé du même côté que la source de lumière 30 par rapport à la surface de l'échantillon 20, et qui est destiné à détecter la lumière émise depuis la surface de l'échantillon 20 ; et une unité de calcul d'absorbance 74 servant à déterminer l'absorbance, qui est une caractéristique optique de l'échantillon, en fonction d'un résultat de détection du détecteur 50 au moment où la surface de l'échantillon 20 est irradiée avec la lumière dans un état où des ondes stationnaires acoustiques se forment dans l'échantillon 20 par l'unité de formation d'ondes stationnaires 40, et d'un résultat de détection du détecteur 50 au moment où la surface de l'échantillon 20 est irradiée avec la lumière dans un état où aucune onde stationnaire acoustique ne se forme dans l'échantillon 20.
(JA)本発明は、試料20に光を照射する光源30と、光源30からの光が入射する試料20の表面から所定の距離だけ内側に節が位置する、前記試料20の表面に垂直な音響定在波を試料20中に形成する定在波形成部40と、試料20の表面に対して光源30と同じ側に配置された、試料20の表面から出射された光を検出する検出器50と、定在波形成部40により試料20中に音響定在波が形成されている状態で試料20の表面に光を照射したときの検出器50の検出結果と、試料20中に音響定在波が形成されていない状態で試料20の表面に光を照射したときの検出器50の検出結果とから、試料の光学特性である吸光度を求める吸光度算出部74とを備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)