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1. (WO2018034205) ORGANIC COMPOUND ANALYZER, ORGANIC COMPOUND ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM FOR ORGANIC COMPOUND ANALYZER
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Pub. No.:    WO/2018/034205    International Application No.:    PCT/JP2017/028757
Publication Date: 22.02.2018 International Filing Date: 08.08.2017
IPC:
G01N 21/65 (2006.01), G01N 33/483 (2006.01)
Applicants: HORIBA, LTD. [JP/JP]; 2, Miyanohigashi-cho, Kisshoin, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018510 (JP)
Inventors: OTA, Chikashi; (JP)
Agent: NISHIMURA, Ryuhei; (JP)
Priority Data:
2016-160638 18.08.2016 JP
Title (EN) ORGANIC COMPOUND ANALYZER, ORGANIC COMPOUND ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM FOR ORGANIC COMPOUND ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE COMPOSÉS ORGANIQUES, PROCÉDÉ D'ANALYSE DE COMPOSÉS ORGANIQUES, ET PROGRAMME POUR ANALYSEUR DE COMPOSÉS ORGANIQUES
(JA) 有機化合物分析装置、有機化合物分析方法、及び、有機化合物分析装置用プログラム
Abstract: front page image
(EN)To provide an organic compound analyzer capable of accurately identifying change feature points in which are reflected microscopic structural changes of an organic compound. The present invention is provided with: a measured data storage unit 2 for storing measured data pairing spectrums, measured with a plurality of differing external stimulation conditions regarding a sample comprising the organic compound, with the external stimulation conditions used to measure each of the spectrums; an evaluation reference vector setting unit 3 for setting loading indicating the weighting with respect to each wave number at which the spectrums were measured; a score calculation unit 4 for calculating a score, on the basis of the loading and the measured data, corresponding to the loading for each external stimulation condition used to measure the spectrums; and a change feature point identification unit 5 for calculating the denaturation temperature of the organic compound on the basis of changes in the score with respect to the external stimulation conditions.
(FR)La présente invention concerne un analyseur de composés organiques capable d'identifier avec précision des points caractéristiques de variation qui reflètent les changements structurels microscopiques d'un composé organique. La présente invention comprend une unité de stockage de données mesurées 2 servant à stocker des spectres mesurés d'appariement de données, mesurés selon une pluralité de conditions de stimulation externes différentes à propos d'un échantillon comprenant le composé organique, les conditions de stimulation externes étant utilisées pour mesurer chacun des spectres ; une unité de paramétrage de vecteurs de référence d'évaluation 3 servant à paramétrer le chargement indiquant la pondération par rapport à chaque valeur d'onde à laquelle les spectres ont été mesurés ; une unité de calcul de score 4 servant à calculer un score, en fonction du chargement et des données mesurées, correspondant au chargement de chaque condition de stimulation externe utilisée pour mesurer les spectres ; et une unité d'identification de points caractéristiques de variation 5 servant à calculer la température de dénaturation du composé organique en fonction des changements du score par rapport aux conditions de stimulation externes.
(JA)有機化合物の微小な構造変化を反映した変化特徴点を高精度に特定することができる有機化合物分析装置を提供するために、有機化合物を含む試料について複数の異なる外部刺激条件で測定されたスペクトルと、各スペクトルが測定された外部刺激条件と、を対にした実測データを記憶する実測データ記憶部2と、前記スペクトルの測定が行われた各波数に対する重み付けを示すローディングを設定する評価基準ベクトル設定部3と、前記ローディングと、前記実測データとに基づいて、前記スペクトルが測定された外部刺激条件ごとに前記ローディングに対応するスコアを算出するスコア算出部4と、外部刺激条件に対する前記スコアの変化に基づいて、前記有機化合物の変性温度を算出する変化特徴点特定部5と、を備えた。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)