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1. (WO2018034095) AUTOMATED SAMPLE INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING SAME
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Pub. No.:    WO/2018/034095    International Application No.:    PCT/JP2017/025815
Publication Date: 22.02.2018 International Filing Date: 14.07.2017
IPC:
G01N 35/02 (2006.01), G01N 35/04 (2006.01)
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventors: MATSUKA Takeshi; (JP).
YANO Shigeru; (JP).
CHIKAHISA Masaki; (JP)
Agent: KAICHI IP; 3-16, Nihonbashi-muromachi 4-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030022 (JP)
Priority Data:
2016-160887 18.08.2016 JP
Title (EN) AUTOMATED SAMPLE INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING SAME
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION D'ÉCHANTILLON AUTOMATISÉ ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DUDIT SYSTÈME D'INSPECTION D'ÉCHANTILLON AUTOMATISÉ
(JA) 検体検査自動化システムおよびその制御方法
Abstract: front page image
(EN)The automated sample inspection system is provided with: a conveyance line 201 for conveying sample carriers 100; an empty sample carrier line 202 for conveying empty sample carriers 100; and a buffer line 203 for temporarily holding empty sample carriers 100 supplied from the empty sample carrier line 202 to the conveyance line 201. According to the depletion status of the buffer line 203 of each processing system, and the depletion status of other processing systems adjacent to each processing system, the number of empty sample carriers 100 to be conveyed from the empty sample carrier line 202 to the buffer line 203 of each processing system, and the number of empty sample carriers 100 to be conveyed from the empty sample carrier line 202 of each processing system to the empty sample carrier line 202 of another adjacent processing system are determined. In doing so, delays in the processes in the system can be suppressed due to the suppression of the depletion of sample carriers.
(FR)La présente invention concerne un système d'inspection d'échantillon automatisé comprenant : une ligne de transport (201) permettant de transporter des supports d'échantillon (100) ; une ligne de supports d'échantillon vides (202) permettant de transporter des supports d'échantillon vides (100) ; et une ligne tampon (203) permettant de maintenir temporairement des supports d'échantillon vides (100) alimentés par la ligne de supports d'échantillon vides (202) à la ligne de transport (201). Selon l'état d'épuisement de la ligne tampon (203) de chaque système de traitement, et l'état d'épuisement d'autres systèmes de traitement adjacents à chaque système de traitement, le nombre de supports d'échantillons vides (100) à transporter de la ligne de supports d'échantillons vides (202) à la ligne tampon (203) de chaque système de traitement, et le nombre de supports d'échantillons vides (100) à transporter de la ligne de supports d'échantillon vides (202) de chaque système de traitement à la ligne de supports d'échantillon vides (202) d'un autre système de traitement adjacent sont déterminés. Par ce moyen, les retards dans les processus dans le système peuvent être supprimés en raison de la suppression de l'épuisement des supports d'échantillons.
(JA)検体キャリア100を搬送する搬送ライン201と、空の検体キャリア100を搬送する空検体キャリアライン202と、空検体キャリアライン202から搬送ライン201に供給される空の検体キャリア100を一時的に保持するバッファライン203とを備え、各処理システムのバッファライン203の枯渇状況、及び、各処理システムに隣接する他の処理システムの枯渇状況に応じて、各処理システムの空検体キャリアライン202からバッファライン203に搬送する空の検体キャリア100の数、及び、各処理システムの空検体キャリアライン202から隣接する他の処理システムの空検体キャリアライン202に搬送する空の検体キャリア100の数を決定する。これにより、検体キャリアの枯渇を抑制することによってシステム内における各処理の停滞を抑制することができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)