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1. (WO2018034057) DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
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Pub. No.:    WO/2018/034057    International Application No.:    PCT/JP2017/022741
Publication Date: 22.02.2018 International Filing Date: 20.06.2017
IPC:
G01N 23/18 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01), G01N 23/04 (2006.01)
Applicants: FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620 (JP)
Inventors: KANEKO, Yasuhiko; (JP)
Agent: MATSUURA, Kenzo; (JP)
Priority Data:
2016-160770 18.08.2016 JP
Title (EN) DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
(FR) APPAREIL D'INSPECTION DE DÉFAUTS, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAUTS, ET PROGRAMME
(JA) 欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラム
Abstract: front page image
(EN)The purpose of the present invention is to provide a defect inspection apparatus, a defect inspection method, and a program which assist a radiographer so as to enable quick and accurate image reading. A defect inspection apparatus (10) is provided with: an image acquisition unit; an image processing unit; a storage unit (24); a defect candidate classification unit for imparting a defect classification to an extracted defect candidate image on the basis of classification information stored in the storage unit (24); a display unit (18) for displaying a received image; an operation unit (14) for accepting a selection between whether to cause the display unit (18) to display or to not display a candidate display indicating the position of a defect candidate image and the classification of the defect candidate image, and outputting a command to display or not display the candidate display according to the selection; and a display control unit for causing the display unit (18) to display or not display the candidate display on the basis of the command outputted from the operation unit (14).
(FR)La présente invention vise à fournir un appareil d'inspection de défauts, un procédé d'inspection de défauts et un programme qui aident un radiographe pour permettre une lecture d'image rapide et précise. Un appareil d'inspection de défauts (10) est pourvu : d'une unité d'acquisition d'image ; d'une unité de traitement d'image ; d'une unité de stockage (24) ; d'une unité de classification de candidat défaut pour impartir une classification de défaut à une image de candidat défaut extraite sur la base d'informations de classification stockées dans l'unité de stockage (24) ; d'une unité d'affichage (18) pour afficher une image reçue ; d'une unité d'opération (14) pour accepter une sélection entre l'opportunité d'entraîner l'affichage ou non par l'unité d'affichage (18) d'un affichage candidat indiquant la position d'une image de candidat défaut et la classification de l'image de candidat défaut, et délivrer en sortie une commande pour afficher ou non l'affichage candidat en fonction de la sélection ; et d'une unité de commande d'affichage pour amener l'unité d'affichage (18) à afficher ou non l'affichage candidat sur la base de la commande délivrée par l'unité d'opération (14).
(JA)本発明は、読影を正確に且つ迅速に行えるように読影者を支援する欠陥検査装置、欠陥検査方法、およびプログラムを提供することを目的とする。欠陥検査装置(10)は、画像取得部と、画像処理部と、記憶部(24)と、記憶部(24)に記憶された分類情報に基づいて、抽出した欠陥候補画像に欠陥の分類を付与する欠陥候補分類部と、受光画像を表示する表示部(18)と、欠陥候補画像の位置および欠陥候補画像の分類を示す補助表示の表示部(18)への表示または非表示の選択を受け付け、選択された補助表示の表示または非表示の指令を出力する操作部(14)と、操作部(14)から出力される指令に基づいて、補助表示を表示部(18)に表示または非表示にする表示制御部と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)