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1. (WO2018030030) TOTALLY INTEGRATED ANALYSIS MODEL ASSISTANCE DEVICE
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Pub. No.:    WO/2018/030030    International Application No.:    PCT/JP2017/024424
Publication Date: 15.02.2018 International Filing Date: 04.07.2017
IPC:
G06F 17/50 (2006.01), G06Q 10/04 (2012.01), G06Q 50/04 (2012.01)
Applicants: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventors: NONAKA Norihiko; (JP).
KAIHO Masayuki; (JP)
Agent: TODA Yuji; (JP)
Priority Data:
2016-155187 08.08.2016 JP
Title (EN) TOTALLY INTEGRATED ANALYSIS MODEL ASSISTANCE DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE TOTALEMENT INTÉGRÉ AVEC ASSISTANCE DE MODÈLES
(JA) 全体統合解析モデル支援装置
Abstract: front page image
(EN)The purpose of the present invention is to improve analysis accuracy and reduce analysis time. A totally integrated analysis device for simultaneously estimating the performance and the manufacturing cost of a mechanical structure to be analyzed, said totally integrated analysis device comprising: a means for displaying an analysis process input screen, and also displaying an analysis process when an analysis node having an analysis program has been selected; a means for displaying an analysis condition input screen and also displaying input conditions needed for analysis; a means for creating an analysis model in accordance with the analysis process, then analyzing and estimating the performance of the mechanical structure, and analyzing and estimating the manufacturing cost on the basis of the performance estimation result; a means for acquiring past manufacturing cost information; a means for displaying a data analysis condition input screen and also displaying analysis conditions; a means for grouping the past manufacturing cost information by means of a clustering technique; a means for visualizing the results obtained by the grouping means, as a graph; and a means for acquiring and displaying analysis results.
(FR)La présente invention a pour objet d'améliorer la précision d'analyse et de réduire la durée d'analyse. Un dispositif d'analyse totalement intégré selon l'invention sert à estimer simultanément les performances et le coût de fabrication d'une structure mécanique à analyser, ledit dispositif d'analyse totalement intégré comportant: un moyen servant à afficher un écran d'entrée de processus d'analyse, et à afficher également un processus d'analyse lorsque un nœud d'analyse doté d'un programme d'analyse a été sélectionné; un moyen servant à afficher un écran d'entrée de conditions d'analyse et à afficher également des conditions d'entrée nécessaires à l'analyse; un moyen servant à créer un modèle d'analyse d'après le processus d'analyse, puis à analyser et à estimer les performances de la structure mécanique, et à analyser et à estimer le coût de fabrication sur la base du résultat d'estimation des performances; un moyen servant à acquérir des informations de coût de fabrication antérieur; un moyen servant à afficher un écran d'entrée de conditions d'analyse de données et à afficher également des conditions d'analyse; un moyen servant à grouper les informations de coût de fabrication antérieur au moyen d'une technique de regroupement; un moyen servant à visualiser les résultats obtenus par le moyen de groupement, sous la forme d'un graphe; et un moyen servant à acquérir et à afficher des résultats d'analyse.
(JA)解析精度の向上、解析時間の短縮化を図る。解析対象である機械構造物の性能と製造コストとを同時に予測する全体統合解析装置であって、解析プロセス入力画面を表示し、解析プログラムを有する解析ノードを選択することにより解析プロセスを表示する手段と、解析条件入力画面を表示し、解析に必要な入力条件を表示する手段と、前記解析プロセスに従った解析モデルを作成して性能予測を解析し、該性能予測の結果に従って、製造コストを解析する手段と、過去の製造コスト情報を取得する手段と、データ分析条件入力画面を表示し、分析条件を表示する手段と、前記過去の製造コスト情報を、クラスタリング手法によりグループ分けする手段と、該グループ分けする手段によって得られる結果をグラフとして可視化する手段と、解析結果を取得して表示する手段と、を有する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)