WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018028410) METHOD FOR INTEL PLATFORM DETECTION OF PARAMETERS IN FLASH ROM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/028410    International Application No.:    PCT/CN2017/093686
Publication Date: 15.02.2018 International Filing Date: 20.07.2017
IPC:
G06F 11/36 (2006.01), G06F 9/445 (2006.01)
Applicants: INSPUR ELECTRONIC INFORMATION INDUSTRY CO., LTD. [CN/CN]; No. 1036, Langchao Road, High-tech Zone Jinan, Shandong 250101 (CN)
Inventors: GUO, ZhangPing; (CN)
Agent: JINAN XINDA PATENT OFFICE CO., LTD.; MING, Jiang Rm. 202, Mini Bldg., Minshihaoting, #12588, Jingshidong Rd, Lixia District Jinan, Shandong 250014 (CN)
Priority Data:
201610645910.4 09.08.2016 CN
Title (EN) METHOD FOR INTEL PLATFORM DETECTION OF PARAMETERS IN FLASH ROM
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT LA DÉTECTION DE PARAMÈTRES D'UNE PLATEFORME INTEL DANS UNE MÉMOIRE MORTE FLASH
(ZH) intel平台检测Flash Rom中参数的方法
Abstract: front page image
(EN)A method for Intel platform detection of parameters in a flash ROM, relating to the technical field of servers: before OPMENU and OPTYPE registers are locked in a PEI stage, storing the data in an SFDP table in a HOB, and then storing the data in a memory of an EfiACPIMemoryNVS type in a DXE stage; the data can be acquired by means of invoking driving on the application layer; the acquisition of various flash ROM parameters is more convenient, facilitating checking whether the parameters are the same as those written in the program; product performance and product stability are increased, and the occurrence of bugs is reduced.
(FR)L'invention, qui se rapporte au domaine technique des serveurs, concerne un procédé permettant la détection de paramètres d'une plateforme Intel dans une mémoire morte flash, comprenant : avant que des registres OPMENU et OPTYPE soient verrouillés dans une étape PEI, le stockage des données dans une table SFDP dans un HOB, puis le stockage des données dans une mémoire de type EfiACPIMemoryNVS dans une étape DXE; les données peuvent être acquises au moyen d'un appel de commande sur la couche d'application; l'acquisition de divers paramètres de mémoire morte flash est plus appropriée, ce qui aide à vérifier que les paramètres sont les mêmes que ceux écrits dans le programme; la performance du produit et la stabilité du produit sont augmentées et l'apparition d'erreurs est réduite.
(ZH)一种intel平台检测Flash Rom中参数的方法,涉及服务器技术领域,通过在PEI阶段OPMENU和OPTYPE寄存器被lock之前,先把SFDP table中的数据保存在HOB中,到DXE阶段再把数据存到EfiACPIMemoryNVS类型的内存中,通过调用驱动在应用层即可获取这些数据;极大方便了获取FLASH ROM的各项参数,以便查看和程序中填写的参数是否一致;增加产品功能,减少BUG出现率,增加了产品稳定性。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)