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1. (WO2018026910) SAMPLE IMAGING APPARATUS AND METHOD
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Pub. No.:    WO/2018/026910    International Application No.:    PCT/US2017/045087
Publication Date: 08.02.2018 International Filing Date: 02.08.2017
IPC:
H01J 49/04 (2006.01)
Applicants: FLUIDIGM CANADA INC. [CA/CA]; 1380 Rodick Road, Suite 400 Markham, Ontario L3R 4G5 (CA)
Inventors: LOBODA, Alexander V.; (CA)
Agent: KITCES, Matthew T.; (US).
BERTELSON, Michael A.; (US).
APPLE, Randolph T.; (US)
Priority Data:
62/370,134 02.08.2016 US
Title (EN) SAMPLE IMAGING APPARATUS AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE D'ÉCHANTILLONS
Abstract: front page image
(EN)Improved mass spectrometry-based apparatus and methods of analysis for analysing samples. A laser sampling system can be adapted to emit pulses of laser radiation at two or more wavelengths, wherein a first wavelength targets a first material and a second wavelength targets a second material. Atoms of the first and second materials removed by laser ablation are ionized by an ionisation system to form elemental ions, which can be detected by a mass spectrometer component. Laser ablation can be performed at multiple locations to form a plurality of plumes, which can be individually subjected to ionisation and spectrometry. Ablating at known locations or recording locational information for each location can permit construction of an image of the sample(s) based on detecting labelling atoms.
(FR)L'invention concerne un dispositif amélioré basé sur la spectrométrie de masse et des procédés d'analyse pour analyser des échantillons. Un système d'échantillonnage laser peut être conçu pour émettre des impulsions de rayonnement laser à deux longueurs d'onde ou plus, une première longueur d'onde cible un premier matériau et une seconde longueur d'onde cible un second matériau. Des atomes des premier et second matériaux éliminés par ablation au laser sont ionisés par un système d'ionisation pour former des ions élémentaires, qui peuvent être détectés par un composant de spectromètre de masse. L'ablation Laser peut être effectuée à de multiples emplacements pour former une pluralité de panaches, qui peuvent être individuellement soumises à une ionisation et à une spectrométrie. L'ablation à des emplacements connus ou l'enregistrement d'informations de localisation pour chaque emplacement peut permettre la construction d'une image de l'échantillon (s) sur la base de la détection d'atomes d'étiquetage.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)