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1. (WO2018025618) MATERIAL STRUCTURE SEARCHING METHOD AND X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS SYSTEM USED IN SAID METHOD
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Pub. No.:    WO/2018/025618    International Application No.:    PCT/JP2017/025716
Publication Date: 08.02.2018 International Filing Date: 14.07.2017
IPC:
G01N 23/205 (2006.01)
Applicants: RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 1968666 (JP)
Inventors: ITO Kazuki; (JP).
OZAWA Tetsuya; (JP).
ITO Koichiro; (JP).
ASAI Shojiro; (JP).
OMOTE Kazuhiko; (JP)
Agent: SASAKI Ko; (JP)
Priority Data:
2016-150882 30.07.2016 JP
Title (EN) MATERIAL STRUCTURE SEARCHING METHOD AND X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS SYSTEM USED IN SAID METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE RECHERCHE DE STRUCTURE DE MATÉRIAU ET SYSTÈME D'ANALYSE STRUCTURALE AUX RAYONS X UTILISÉ DANS LEDIT PROCÉDÉ
(JA) 物質構造の探索方法とそれに用いるX線構造解析システム
Abstract: front page image
(EN)[Problem] To provide a material structure searching method and an X-ray structural analysis device used in said method that make it possible to carry out X-ray structural analysis of a multiscale structure without specialized knowledge. [Solution] An X-ray structural analysis system used in a material structure searching method is at least provided with an X-ray source for emitting X-rays, an X-ray irradiation means for irradiating X-rays from the X-ray source onto a sample to be measured, an X-ray detection means for measuring X-rays that have been diffracted or scattered by the sample to be measured, and a means for generating XRDS information including X-ray image characteristics on the basis of the X-rays that have been scattered or diffracted by the sample to be measured and detected by the X-ray detection means. The X-ray structural analysis system is further provided with a means capable of accessing image, analysis method, and physical property databases and an interrelationship information database including associations between the databases.
(FR)Le problème décrit par la présente invention est de fournir un procédé de recherche de structure de matériau et un dispositif d'analyse structurale aux rayons X utilisé dans ledit procédé qui permettent d'effectuer une analyse structurale aux rayons X d'une structure à échelles multiples sans connaissance spécialisée. La solution selon l'invention concerne un système d'analyse structurale aux rayons X utilisé dans un procédé de recherche de structure de matériau qui est au moins pourvu d'une source de rayons X émettant des rayons X, un moyen d'appliquer les rayons X émis par la source de rayons X sur un échantillon à mesurer, un moyen de détection des rayons X servant à mesurer les rayons X qui ont été diffractés ou diffusés par l'échantillon à mesurer, et un moyen permettant de générer des informations XRDS comprenant des caractéristiques d'image radiographique en fonction des rayons X qui ont été diffusés ou diffractés par l'échantillon à mesurer et détectés par le moyen de détection des rayons X. Le système d'analyse structurale aux rayons X comporte en outre un moyen capable d'accéder à une image, un procédé d'analyse et des bases de données de propriétés physiques et une base de données d'informations interrelationnelle comprenant des associations entre les bases de données.
(JA)【課題】 専門知識がなくても、マルチスケール構造のX線構造解析を可能とする物質構造の探索方法とそれに用いるX線構造解析装置を提供する。 【解決手段】 物質構造の探索方法に用いるX線構造解析システムは、少なくとも、X線を発生するX線源と、前記X線源からのX線を測定すべき試料に照射するX線照射手段と、測定すべき試料により回折又は散乱されたX線を測定するためのX線検出手段と、前記X線検出手段により検出された測定すべき試料の回折又は散乱X線に基づいてX線画像の形質を含めたXRDS情報を生成する手段とを備えており、さらに、イメージ、分析法、物性によるによるデータベース、更には、それらのデータベースの相互の紐づけを含む相互関連情報データベースに対してアクセス可能な手段を備えている。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)