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1. (WO2018024339) ONLINE SURFACE RESISTANCE MEASURING OF PRIMED SUBSTRATES TO EVALUATE DRYING STATE
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Pub. No.: WO/2018/024339 International Application No.: PCT/EP2016/068708
Publication Date: 08.02.2018 International Filing Date: 04.08.2016
IPC:
G03G 15/00 (2006.01) ,G03G 15/10 (2006.01)
Applicants: HP INDIGO B.V.[NL/NL]; Startbaan 16 1187 XR Amstelveen, NL
Inventors: SCHNEIDER, Matan; IL
ORLIK, Fernanda; IL
SHOSHANI, Eli; IL
Agent: CASSIE, Matthew; GB
Priority Data:
Title (EN) ONLINE SURFACE RESISTANCE MEASURING OF PRIMED SUBSTRATES TO EVALUATE DRYING STATE
(FR) MESURE EN LIGNE DE LA RÉSISTANCE DE SURFACE DE SUBSTRATS APPRÊTÉS POUR ÉVALUER L'ÉTAT DE SÉCHAGE
Abstract:
(EN) Apparatus and methods are provided for measuring the dryness of primer on a substrate in an inline priming system. In implementations, the apparatus comprises a plurality of measurement electrodes spaced laterally to extend across and contact a primed surface of a substrate following application of a primer to the substrate as it is fed through the inline priming system. A resistance measurement unit is provided as part of the dryness measuring apparatus to, in use, measure the surface resistance of the primed substrate between different measurement electrodes across the primed surface of a substrate. A controller is provided in the dryness measurement apparatus, the controller arranged to, in use: receive the measured surface resistance value and to generate, based on the measured surface resistance values, a dryness profile indicative of the dryness of the primer at locations across the substrate in the direction of the spacing of the electrodes.
(FR) La présente invention porte sur un appareil et sur des procédés permettant de mesurer la siccité d'une couche primaire sur un substrat dans un système d'apprêtage en ligne. Selon des modes de réalisation, l'appareil comprend une pluralité d'électrodes de mesure espacées latéralement de sorte à s'étendre d'un côté à l'autre d'une surface apprêtée, et à venir en contact avec une surface apprêtée, d'un substrat après l'application d'une couche primaire sur le substrat au fur et à mesure qu'il est transmis à travers le système d'apprêtage en ligne. Une unité de mesure de résistance fait partie de l'appareil de mesure de siccité destiné, lors de l'utilisation, à mesurer la résistance de surface du substrat apprêté entre différentes électrodes de mesure sur la surface apprêtée d'un substrat. Un dispositif de commande est disposé dans l'appareil de mesure de siccité, le dispositif de commande étant conçu, lors de l'utilisation : pour recevoir la valeur de résistance de surface mesurée et pour générer, sur la base des valeurs de résistance de surface mesurées, un profil de siccité indiquant la siccité de la couche primaire à des endroits situés sur le substrat dans la direction de l'espacement des électrodes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)