WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018021219) TEST DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/021219    International Application No.:    PCT/JP2017/026637
Publication Date: 01.02.2018 International Filing Date: 24.07.2017
IPC:
C12M 1/00 (2006.01), G01N 30/90 (2006.01), G01N 30/91 (2006.01), G01N 30/92 (2006.01)
Applicants: KANEKA CORPORATION [JP/JP]; 3-18, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5308288 (JP)
Inventors: SANO Sotaro; (JP).
MIYAMOTO Shigehiko; (JP).
JIKIHARA Takaaki; (JP)
Agent: HIRAKI & ASSOCIATES; Atago Green Hills MORI Tower 32F, 5-1, Atago 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1056232 (JP)
Priority Data:
2016-150452 29.07.2016 JP
Title (EN) TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST
(JA) 検査用デバイス
Abstract: front page image
(EN)According to one or more modes for carrying out the present invention, provided is a test device wherein contamination possibility can be reduced when a liquid is brought into contact with a chromatographic support. The test device 1 comprises: a chassis 10 which has an inner space 11, in which a hole 12 for supporting a container 40 containing a liquid L therein is formed, and which is provided with a piercing or cutting part 13; and a cover 20 covering a chassis hole formation part 14 of the chassis 10. This test device is configured so that: the chassis 10 and/or the cover 20 are provided with a guide part 50 which guides the chassis 10 and the cover 20 from a first position to a second position while the cover 20 covers the chassis hole formation part 14; at the first position, the cover 20 covers the chassis hole formation part 14 and the container 40 and the container 40 is located at a position where the container 40 is not cut; and, during the moving process of the cover from the first position to the second position, the container 40 is pushed by the cover 20 toward the piercing or cutting part 13 and then cut so that the liquid L is leaked into the inner space 11.
(FR)Selon un ou plusieurs modes de réalisation, la présente invention concerne un dispositif de test dans lequel il est possible de réduire la contamination lorsqu'un liquide est mis en contact avec un support chromatographique. Le dispositif de test 1 comprend : un châssis 10 qui comporte un espace interne 11, dans lequel est formé un trou 12 pour accueillir un récipient 40 contenant un liquide L, et qui comporte une partie de perforation ou de découpe 13 ; et un couvercle 20 recouvrant une partie de formation de trou de châssis 14 du châssis 10. Ce dispositif de test est conçu de telle sorte que : le châssis 10 et/ou le couvercle 20 comportent une partie de guidage 50 qui oriente le châssis 10 et le couvercle 20 et les fait passer d'une première position à une seconde position tandis que le couvercle 20 recouvre la partie de formation de trou du châssis 14 ; à la première position, le couvercle 20 recouvre la partie de formation de trou de châssis 14 et le récipient 40 et le récipient 40 est situé à une position où le récipient 40 n'est pas coupé ; et, pendant le processus de déplacement du couvercle de la première position à la seconde position, le récipient 40 est poussé par le couvercle 20 vers la partie de perforation ou de découpe 13 puis est découpé de telle sorte que le liquide L fuie dans l'espace interne 11.
(JA)本発明の1以上の実施形態は、液体をクロマトグラフィー担体に接触させる際の汚染の可能性が低減された検査用デバイスを提供する。 検査用デバイス1は、内部空間11を内包し、液体Lを収容した容器40を支持する孔12が形成され、且つ、穿孔切開部13を備える筐体10と、筐体10の筐体孔形成部14を覆う蓋体20とを備え、筐体10及び/又は蓋体20は、蓋体20が、筐体孔形成部14を覆いながら第1位置から第2位置まで移動することが可能なように筐体10と蓋体20を案内する案内部50を備え、第1位置では、蓋体20が筐体孔形成部14と容器40とを覆い、且つ、容器40は切開されない位置であり、蓋体の第1位置から第2位置への移動の過程で、蓋体20により容器40が穿孔切開部13に向けて押し込まれ切開され液体Lが内部空間11内に漏出されるよう構成されている。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)