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1. (WO2018020257) INSPECTION SYSTEM WITH SOURCE OF RADIATION AND METHOD
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Pub. No.:    WO/2018/020257    International Application No.:    PCT/GB2017/052198
Publication Date: 01.02.2018 International Filing Date: 27.07.2017
IPC:
G01V 5/00 (2006.01), H01J 35/00 (2006.01), H05G 2/00 (2006.01)
Applicants: SMITHS HEIMANN SAS [FR/FR]; 36 Rue Charles Heller 94400 Vitry Sur Seine (FR).
VIENNE, Aymeric [FR/GB]; (GB) (KP only)
Inventors: JEGOU, Guillaume; (FR)
Agent: MATHYS & SQUIRE LLP; The Shard 32 London Bridge Street London Greater London SE1 9SG (GB)
Priority Data:
1613069.2 28.07.2016 GB
Title (EN) INSPECTION SYSTEM WITH SOURCE OF RADIATION AND METHOD
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION À SOURCE DE RAYONNEMENT ET PROCÉDÉ
Abstract: front page image
(EN)In examples, it is disclosed an inspection system comprising: a secondary source of radiation configured to generate secondary electromagnetic radiation for inspection of a load in response to being irradiated by primary electromagnetic radiation from a primary generator of electromagnetic radiation; and one or more detectors configured to detect radiation from the load after interaction with the secondary inspection beam.
(FR)Selon des modes de réalisation donnés à titre d'exemple, l'invention concerne un système d'inspection comprenant : une source secondaire de rayonnement conçue pour générer un rayonnement électromagnétique secondaire en vue de l'inspection d'une charge en réponse à une exposition à un rayonnement par un rayonnement électromagnétique primaire en provenance d'un générateur primaire de rayonnement électromagnétique ; et un ou plusieurs détecteurs conçus pour détecter un rayonnement en provenance de la charge après interaction avec le faisceau d'inspection secondaire.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)