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1. (WO2018019866) TESTING HEAD OF AN APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES AND CORRESPONDING PROBE HEAD
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Pub. No.: WO/2018/019866 International Application No.: PCT/EP2017/068840
Publication Date: 01.02.2018 International Filing Date: 26.07.2017
IPC:
G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 3/00 (2006.01)
Applicants: TECHNOPROBE S.P.A.[IT/IT]; Via Cavalieri di Vittorio Veneto, 2 23870 Cernusco Lombardone (Lecco), IT
Inventors: CRIPPA, Roberto; IT
FELICI, Stefano; IT
Agent: FERRARI, Barbara; IT
Priority Data:
10201600007969428.07.2016IT
Title (EN) TESTING HEAD OF AN APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES AND CORRESPONDING PROBE HEAD
(FR) TÊTE D'ESSAI D'UN APPAREIL POUR RÉALISER DES ESSAIS SUR DES DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES ET TÊTE DE SONDE CORRESPONDANTE
Abstract: front page image
(EN) The invention describes a testing head (21) of an apparatus for testing electronic devices comprising a plurality of contact probes (22) inserted into guide holes realized in at least one upper support (23) and one lower support (24), a bending zone (26) of the contact probes (22) being defined between said upper and lower supports (23, 24), each contact probe (22) having at least one first terminal portion (21A) projecting from the lower support (24) with a first length (LA) and ending with a contact tip (22A) adapted to abut onto a respective contact pad (27A) of a device under test (27) and a second terminal portion (21B) projecting from the upper support (23) with a second length (LB) and ending with a contact head (22B) adapted to abut onto a contact pad (28A) of a space transformer (28). Suitably, at least one of said upper and/or lower supports (23, 24) comprises at least one couple of upper and/or lower guides (23A, 23B; 24A, 24B) being plate-shaped and parallel to each other, separated by a free zone (40) of a predetermined length (Ls), at least one spacer element (30) being interposed between the couple of upper and/or lower guides (23A, 23B; 24A, 24B), the spacer element (30) being removable to adjust said first length (LA) of the first terminal portion (21A) of the contact probes (22) by changing the length (Ls) of the free zone (40) between the couple of upper and/or lower guides (23A, 23B; 24A, 24B), so approaching the guides of the at least one couple of upper and/or lower guides (23A, 23B; 24A, 24B).
(FR) La présente invention concerne une tête d'essai (21) d'un appareil pour réaliser des essais sur des dispositifs électroniques. Ladite invention comprend une pluralité de sondes de contact (22) insérées dans des trous de guidage réalisés dans au moins un support supérieur (23) et un support inférieur (24), une zone de flexion (26) des sondes de contact (22) étant définie entre lesdits supports supérieur et inférieur (23, 24), chaque sonde de contact (22) ayant au moins une première partie terminale (21A) qui fait saillie du support inférieur (24) selon une première longueur (LA) et qui se termine avec une pointe de contact (22A) conçue pour venir en butée sur un plot de contact respectif (27A) d'un dispositif à l'essai (27) et une seconde partie terminale (21B) qui fait saillie du support supérieur (23) selon une seconde longueur (LB) et qui se termine avec une tête de contact (22B) conçue pour venir en butée sur un plot de contact (28A) d'un transformateur spatial (28). De manière appropriée, au moins l'un desdits supports supérieur et/ou inférieur (23, 24) comprend au moins une paire de guidages supérieurs et/ou inférieurs (23A, 23B ; 24A, 24B) en forme de plaque et parallèles l'un à l'autre, séparés par une zone libre (40) d'une longueur prédéterminée (Ls), au moins un élément d'espacement (30) étant interposé entre la paire de guidages supérieurs et/ou inférieurs (23A, 23B ; 24A, 24B), l'élément d'espacement (30) étant amovible pour ajuster ladite première longueur (LA) de la première partie terminale (21A) des sondes de contact (22) en modifiant la longueur (Ls) de la zone libre (40) entre la paire de guidages supérieurs et/ou inférieurs (23A, 23B ; 24A, 24B), ainsi se rapprochant des guidages de la ou des paires de guidages supérieurs et/ou inférieurs (23A, 23B ; 24A, 24B).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)