WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018015562) MEASURING SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING AN IMPLANT-IMPLANT SITUATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/015562    International Application No.:    PCT/EP2017/068541
Publication Date: 25.01.2018 International Filing Date: 21.07.2017
IPC:
A61C 9/00 (2006.01), A61C 8/00 (2006.01)
Applicants: SIRONA DENTAL SYSTEMS GMBH [DE/DE]; Fabrikstr. 31 64625 Bensheim (DE)
Inventors: PFEIFFER, Joachim; (DE).
THIEL, Frank; (DE)
Agent: SOMMER, Peter; (DE)
Priority Data:
10 2016 213 399.3 21.07.2016 DE
Title (DE) VERMESSUNGSSYSTEM UND VERFAHREN ZUR VERMESSUNG EINER IMPLANTAT-IMPLANTAT-SITUATION
(EN) MEASURING SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING AN IMPLANT-IMPLANT SITUATION
(FR) SYSTÈME DE MESURE ET PROCÉDÉ POUR MESURER LA SITUATION IMPLANT-IMPLANT
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Vermessungssystem (1) zur Vermessung einer Implantat-Implantat-Situation (5) für eine Planung eines implantatgetragenen Zahnersatzteils (33) gestützt auf mindestens zwei Implantate (3, 4, 6, 7) umfassend eine Scanschablone (2) und die mindestens zwei gesetzten Implantate (3, 4, 6, 7). Die Scanschablone (2) weist dabei Aussparungen (11, 12, 13,14) für die einzelnen Implantate (3, 4, 6, 7) auf, wobei an Oberflächenbereichen (24) um die Aussparungen (11, 12, 13,14) erste Markierungen (25) angeordnet sind.
(EN)The invention relates to a measuring system (1) for measuring an implant-implant situation (5) for planning an implant-supported tooth replacement part (33) supported on at least two implants (3, 4, 6, 7), comprising a scanning template (2) and the at least two set implants (3, 4, 6, 7). The scanning template (2) has cut-outs (11, 12, 13, 14) for the individual implants (3, 4, 6, 7), wherein first markings (25) are arranged on surface regions (24) around the cut-outs (11, 12, 13, 14).
(FR)L'invention concerne un système de mesure (1) destiné à mesurer une situation implant-implant (5) pour la conception d'une prothèse dentaire (33) supportée par des implants et soutenue sur au moins deux implants (3, 4, 6, 7) comprenant un gabarit de scannage (2) et les deux implants (3, 4, 6, 7) ou plus mis en place. Le gabarit de scannage (2) présente des évidements (11, 12, 13, 14) pour les divers implants (3, 4, 6, 7), des premiers repères (25) étant agencés autour des évidements (11, 12, 13, 14) sur les zones superficielles (24).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)