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1. (WO2018013731) MAGNETIC PARTICLE IMAGING USING FLUX RETURN OR SHIM MAGNET
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Pub. No.:    WO/2018/013731    International Application No.:    PCT/US2017/041783
Publication Date: 18.01.2018 International Filing Date: 12.07.2017
IPC:
A61B 5/05 (2006.01), G01R 33/12 (2006.01)
Applicants: MAGNETIC INSIGHT, INC. [US/US]; Suite 102 980 Atlantic Avenue Alameda, California 94501 (US)
Inventors: GOODWILL, Patrick W.; (US)
Agent: HUDSON, Benjamin F.; (US)
Priority Data:
62/361,463 12.07.2016 US
62/361,475 12.07.2016 US
Title (EN) MAGNETIC PARTICLE IMAGING USING FLUX RETURN OR SHIM MAGNET
(FR) IMAGERIE À PARTICULES MAGNÉTIQUES UTILISANT UN AIMANT DE RETOUR OU DE COMPENSATION DE FLUX
Abstract: front page image
(EN)A Magnetic Particle Imaging (MPI) system with a magnet configured to generate a magnetic field with a field free line, the magnet integrated with a flux return designed so that a flux path at approximately the center of the field-free line has a first reluctance and a second flux path distal from the center of the field-free line has a second reluctance, and the second reluctance is lower than the first reluctance to facilitate a high fidelity magnetic field and high fidelity field free line.
(FR)Un système d'imagerie à particules magnétiques (MPI) comprend un aimant conçu pour générer un champ magnétique avec une ligne exempte de champ, l'aimant étant intégré à un retour de flux conçu de telle sorte qu'un chemin de flux approximativement au centre de la ligne exempte de champ présente une première réluctance et qu'un second chemin de flux distal par rapport au centre de la ligne exempte de champ présente une seconde réluctance, et la seconde réluctance est inférieure à la première réluctance pour faciliter un champ magnétique haute fidélité et une ligne libre de champ haute fidélité.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)