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1. (WO2018012364) BATTERY PACK CIRCUIT, CAPACITY COEFFICIENT DETECTION METHOD, AND CAPACITY COEFFICIENT DETECTION PROGRAM
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Pub. No.:    WO/2018/012364    International Application No.:    PCT/JP2017/024613
Publication Date: 18.01.2018 International Filing Date: 05.07.2017
IPC:
H02J 7/00 (2006.01), G01R 31/36 (2006.01), H01M 10/42 (2006.01), H01M 10/44 (2006.01), H01M 10/48 (2006.01), H02J 7/02 (2016.01)
Applicants: MURATA MANUFACTURING CO., LTD. [JP/JP]; 10-1, Higashikotari 1-chome, Nagaokakyo-shi, Kyoto 6178555 (JP)
Inventors: SANO, Kosuke; (JP)
Agent: SAKAI, Masatoshi; (JP)
Priority Data:
2016-138110 13.07.2016 JP
Title (EN) BATTERY PACK CIRCUIT, CAPACITY COEFFICIENT DETECTION METHOD, AND CAPACITY COEFFICIENT DETECTION PROGRAM
(FR) CIRCUIT DE BLOC-BATTERIE, PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE COEFFICIENT DE CAPACITÉ ET PROGRAMME DE DÉTECTION DE COEFFICIENT DE CAPACITÉ
(JA) 組電池回路、容量係数検出方法、および容量係数検出プログラム
Abstract: front page image
(EN)In the present invention the open-circuit voltage of standard cells 20st changes along a SOC/standard cell voltage characteristic curve, while the open-circuit voltage of a shift cell 20sh changes along a SOC/shift cell voltage characteristic curve. The SOC/shift cell voltage characteristic curve overlaps a shifted curve for which the SOC/standard cell voltage characteristic curve has been shifted by a predetermined amount in the horizontal axis-direction. A system control circuit 16 obtains from a memory 16m a SOC/potential difference characteristic curve representing a change in the potential difference between the standard cells 20st and the shift cell 20sh with respect to the SOC, and calculates the current potential difference between the standard cells 20st and the shift cell 20sh. In addition, the system control circuit 16 compares the calculated current potential difference and the SOC/potential difference characteristic curve, and detects a current SOC value for the standard cells 20st.
(FR)Dans la présente invention, la tension de circuit ouvert de cellules standard 20st change le long d’une courbe caractéristique de tension de cellule SOC/standard, tandis que la tension de circuit ouvert d’une cellule de décalage 20sh change le long d’une courbe caractéristique de tension de cellule de SOC/décalage. La courbe caractéristique de tension de cellule SOC/décalage chevauche une courbe décalée pour laquelle la courbe caractéristique de tension de cellule SOC/standard a été décalée d’une quantité prédéterminée dans la direction de l’axe horizontal. Un circuit de commande de système 16 obtient, à partir d’une mémoire, une courbe caractéristique de SOC/différence de potentiel représentant un changement de la différence de potentiel entre les cellules standard 20st et la cellule de décalage 20sh par rapport au SOC, et calcule la différence de potentiel actuelle entre les cellules standard 20st et la cellule de décalage 20sh. En outre, le circuit de commande de système 16 compare la différence de potentiel actuelle calculée et la courbe caractéristique de SOC/différence de potentiel, et détecte une valeur SOC actuelle pour les cellules standard 20st.
(JA)標準セル20stの開路電圧はSOC・標準セル電圧特性曲線に沿って変化する一方、シフトセル20shの開路電圧はSOC・シフトセル電圧特性曲線に沿って変化する。SOC・シフトセル電圧特性曲線は、SOC・標準セル電圧特性曲線を横軸方向に既定量シフトさせた曲線と重なる。システム制御回路16は、標準セル20st・シフトセル20sh間の電位差のSOCに対する変化を表すSOC・電位差特性曲線をメモリ16mから取得し、標準セル20st・シフトセル20sh間の現時点の電位差を算出する。システム制御回路16はまた、算出された現時点の電位差をSOC・電位差特性曲線と照合して、標準セル20stの現時点のSOC値を検出する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)