WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018012048) ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/012048    International Application No.:    PCT/JP2017/012832
Publication Date: 18.01.2018 International Filing Date: 29.03.2017
IPC:
A61B 8/06 (2006.01)
Applicants: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventors: HISATSU, Masanori; (JP)
Agent: YKI PATENT ATTORNEYS; 1-34-12, Kichijoji-Honcho, Musashino-shi, Tokyo 1800004 (JP)
Priority Data:
2016-140521 15.07.2016 JP
Title (EN) ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC ÉCHOGRAPHIQUE
(JA) 超音波診断装置
Abstract: front page image
(EN)The purpose of the present invention is to improve precision of Doppler measurement when a sample gate is set at a position deeper than a reference depth. A region called a subgate is generated at a position having a depth equal to the depth of the sample gate minus the reference depth (the depth to which an ultrasonic pulse travels out and back in one repetition period). The pulse Doppler device, while receiving ultrasonic waves to be measured which are produced by reflection at the sample gate, forms an ultrasonic beam in which extraneous ultrasonic waves produced by reflection at the subgate are attenuated. Specifically, a reception focus point for a received beam is set at the sample gate and a reception attenuation point for the received beam is set at the subgate through a process executed by a phasing weighting unit 24. The phasing weighting unit 24 outputs a synthesized signal synthesized so as to strengthen a detection signal based on ultrasonic waves reflected at the reception focus point and to weaken a detection signal based on ultrasonic waves reflected at the reception attenuation point.
(FR)L’objectif de la présente invention est d'améliorer la précision d’une mesure Doppler lorsqu'une porte d'échantillonnage est réglée à une position plus profonde qu'une profondeur de référence. Une région appelée sous-porte est générée à une position ayant une profondeur égale à la profondeur de la porte d'échantillonnage moins la profondeur de référence (la profondeur à laquelle une impulsion ultrasonore se déplace vers l'extérieur et vers l'arrière dans une période de répétition). Le dispositif Doppler à impulsions, tout en recevant des ondes ultrasonores à mesurer qui sont produites par réflexion au niveau de la porte d'échantillonnage, forme un faisceau ultrasonore dans lequel des ondes ultrasoniques extérieures produites par réflexion au niveau de la sous-porte sont atténuées. Spécifiquement, un point de foyer de réception pour un faisceau reçu est défini au niveau de la porte d'échantillonnage et un point d'atténuation de réception pour le faisceau reçu est défini au niveau de la sous-porte par l'intermédiaire d'un processus exécuté par une unité de pondération de mise en phase 24. L'unité de pondération de mise en phase 24 émet un signal synthétisé qui est synthétisé de façon à renforcer un signal de détection sur la base d'ondes ultrasonores réfléchies au niveau du point de foyer de réception et affaiblir un signal de détection sur la base d'ondes ultrasonores réfléchies au niveau du point d'atténuation de réception.
(JA)基準深度より深い位置にサンプルゲートが設定される場合について、ドプラ測定の精度を向上させることを目的とする。サンプルゲートの深さから基準深度(1繰り返し周期で超音波パルスが往復する深さ)を引いた深さの位置にはサブゲートと呼ばれる領域が生じる。パルスドプラ装置は、サンプルゲートで反射して生じる観測対象超音波を受信しながらも、サブゲートで反射して生じる不要超音波を減衰させる超音波ビームを形成する。すなわち、整相重み付け部24が実行する処理によって、サンプルゲートに受信ビームの受信焦点が設定され、サブゲートに受信ビームの受信減衰点が設定される。整相重み付け部24は、受信焦点で反射した超音波に基づく検波信号を強め合うように合成し、かつ、受信減衰点で反射した超音波に基づく検波信号を弱め合うように合成した合成信号を出力する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)