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1. (WO2018010387) REVERSED ELEMENT DETECTION METHOD AND SYSTEM
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Pub. No.: WO/2018/010387 International Application No.: PCT/CN2016/113130
Publication Date: 18.01.2018 International Filing Date: 29.12.2016
IPC:
G06T 7/00 (2017.01)
G PHYSICS
06
COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
T
IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7
Image analysis, e.g. from bit-mapped to non bit-mapped
Applicants:
广州视源电子科技股份有限公司 GUANGZHOU SHIYUAN ELECTRONICS CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省广州市 黄埔区云埔四路6号 No.6, 4th Yunpu Road, Huangpu District Guangzhou, Guangdong 510530, CN
Inventors:
李红匣 LI, Hongxia; CN
Agent:
广州华进联合专利商标代理有限公司 ADVANCE CHINA IP LAW OFFICE; 中国广东省广州市 天河区花城大道85号3901房 Room 3901, No. 85 Huacheng Avenue, Tianhe District Guangzhou, Guangdong 510623, CN
Priority Data:
201610561857.X13.07.2016CN
Title (EN) REVERSED ELEMENT DETECTION METHOD AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE DÉTECTION D'ÉLÉMENTS INVERSÉS
(ZH) 元件反件检测方法和系统
Abstract:
(EN) A reversed element detection method and system, the method comprising the following steps: acquiring a polar region image and a polar symmetric region image of an element to be detected on a circuit board (S1); acquiring a first number of pixel points in the polar region image, pixel values thereof being within a preselected pixel value range, and comparing the first number to a first reference number of pixel points in a prestored polar region reference image, pixel values thereof being within the pixel range (S2); acquiring a second number of pixel points in the polar symmetric region image, pixel values thereof being within the pixel value range, and comparing the second number to a second reference number of pixel points in the polar region reference image, pixel values thereof being within the pixel range (S3); and determining that the element to be detected is a reversed element if a difference value between the first number and the first reference number is greater than a preset first difference value threshold, and a difference value between the second number and the second reference number is less than a preset second difference value threshold (S4).
(FR) L'invention concerne un procédé et un système de détection d'élément inversé, le procédé comprenant les étapes suivantes consistant à : acquérir une image de région polaire et une image de région symétrique polaire d'un élément à détecter sur une carte de circuit (S1); à acquérir un premier nombre de points de pixels dans l'image de région polaire, dont les valeurs de pixels se situent dans une plage de valeurs de pixels présélectionnée, et comparer le premier nombre à un premier nombre de référence de points de pixels dans une image de référence de région polaire pré-stockée, dont les valeurs de pixels se situent dans la plage de pixels (S2); à acquérir un second nombre de points de pixels dans l'image de région symétrique polaire, dont les valeurs de pixels se situent dans la plage de valeurs de pixels, et à comparer le second nombre à un second nombre de référence de points de pixels dans l'image de référence de région polaire, dont les valeurs de pixels se situent dans la plage de pixels (S3); et déterminer que l'élément à détecter est un élément inversé si une valeur de différence entre le premier nombre et le premier nombre de référence est supérieure à un premier seuil de valeur de différence prédéterminé, et une valeur de différence entre le second nombre et le second nombre de référence est inférieure à un second seuil de valeur de différence prédéterminé (S4).
(ZH) 一种元件反件检测方法和系统,其中方法包括以下步骤:获取电路板上待测元件的极性区域图像和极性对称区域图像(S1);获取所述极性区域图像中像素值处于预选的像素值区间内的像素点的第一数量,将所述第一数量与预存的极性区域参考图像中像素值处于所述像素区间内的像素点的第一参考数量进行比较(S2);获取所述极性对称区域图像中像素值处于所述像素值区间内的像素点的第二数量,将所述第二数量与所述极性区域参考图像中像素值处于所述像素区间内的像素点的第二参考数量进行比较(S3);若所述第一数量与所述第一参考数量的差值大于预设的第一差值阈值,且所述第二数量与所述第二参考数量的差值小于预设的第二差值阈值,判定所述待测元件反件(S4)。
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