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1. (WO2018009776) FEEDBACK CONTROL OF MOUNTED CHIP PRODUCTION
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Pub. No.:    WO/2018/009776    International Application No.:    PCT/US2017/041071
Publication Date: 11.01.2018 International Filing Date: 07.07.2017
IPC:
G06K 7/00 (2006.01), G06K 19/077 (2006.01)
Applicants: AVERY DENNISON RETAIL INFORMATION SERVICES, LLC [US/US]; 1700 West Park Drive, Suite 400 Westborough, Massachusetts 01581 (US)
Inventors: FORSTER, Ian J.; (GB)
Agent: RUIC, Amber C.; (US)
Priority Data:
15/204,607 07.07.2016 US
Title (EN) FEEDBACK CONTROL OF MOUNTED CHIP PRODUCTION
(FR) COMMANDE PAR RÉTROACTION DE LA PRODUCTION DE PUCE MONTÉES
Abstract: front page image
(EN)A feedback control system for RFID assembly production. The control system can include a measurement system and a control system. The measurement system may take measurements of one or more electrical properties of an RFID chip assembly, for example an RFID strap or RFID antenna. The measurement system may then communicate to the control system to adjust one or more parameters affecting the electrical properties. Once the desired set of electrical properties is achieved, the chip assembly may be cured. The feedback control system may be implemented dynamically, either for precision assembly of individual chip assemblies or in batch for controlling the average properties of assemblies on a rolling production line. The feedback control system can also be implemented in a step-wise fashion and be used to collect data and iteratively self-improve.
(FR)L'invention porte également sur un système de commande à rétroaction pour la production d'un assemblage RFID. Le système de commande peut comprendre un système de mesure et un système de commande. Le système de mesure peut prendre des mesures d'une ou de plusieurs propriétés électriques d'un ensemble de puces RFID, par exemple une bande RFID ou une antenne RFID. Le système de mesure peut ensuite communiquer au système de commande pour ajuster un ou plusieurs paramètres affectant les propriétés électriques. Une fois que l'ensemble désiré de propriétés électriques est obtenu, l'assemblage de puce peut être durci. Le système de commande de rétroaction peut être mis en oeuvre de manière dynamique, soit pour l'assemblage de précision d'ensembles de puces individuels, soit dans un lot pour la commande des propriétés moyennes d'ensembles sur une chaîne de production de laminage. Le système de commande de rétroaction peut également être mis en oeuvre par étapes et être utilisé pour collecter des données et améliorer de manière itérative l'auto-amélioration.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)