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1. (WO2018006246) METHOD FOR MATCHING FEATURE POINTS OF PLANAR ARRAY OF FOUR-PHASE UNIT AND MEASUREMENT METHOD ON BASIS THEREOF
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Pub. No.:    WO/2018/006246    International Application No.:    PCT/CN2016/088420
Publication Date: 11.01.2018 International Filing Date: 04.07.2016
IPC:
G01B 11/00 (2006.01), G01B 11/24 (2006.01)
Applicants: CAO, Liang [CN/CN]; (CN)
Inventors: CAO, Liang; (CN)
Agent: CHOFN INTELLECTUAL PROPERTY; Room 1215-1218, Floor 12 Left Bank Community No.68 Beisihuanxilu, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Priority Data:
Title (EN) METHOD FOR MATCHING FEATURE POINTS OF PLANAR ARRAY OF FOUR-PHASE UNIT AND MEASUREMENT METHOD ON BASIS THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE MISE EN CORRESPONDANCE DE POINTS CARACTÉRISTIQUES DE RÉSEAU PLAN D’UNITÉ À QUATRE PHASES ET PROCÉDÉ DE MESURE SUR LA BASE DE CE DERNIER
(ZH) 四相机组平面阵列特征点匹配方法及基于其的测量方法
Abstract: front page image
(EN)The invention belongs to the field of optical electronic measurement, and disclosed are a method for matching feature points of a planar array of a four-phase unit and a measurement method on the basis thereof. The matching method comprises: using one image plane among four image planes (a, b, c, d) as a base image plane (a), and finding, for a feature point (P a) on the base image plane (a), all matching points (P b, P b1) which match the feature point (P a) on an image plane (b) adjacent to the base image plane (a) in a transverse direction; finding, for the feature point (Pa) on the base image plane (a), all matching points (Pc, Pc2}) which match the feature point (a) on an image plane (c) adjacent to the base image plane (a) in a longitudinal direction; rematching the all matching points (Pb, Pb1, Pc, Pc2) found in both the transverse and longitudinal directions, and finding all sub-matching point groups ((Pb, Pc), (Pb1, Pc2)); finding on a diagonal position image plane (d) matching points (Pd, Pd3) corresponding to the feature point (Pa) on the base image plan (a) and the found all sub-matching point groups ((Pb, Pc), (Pb1, Pc2)); and determining uniqueness matching point groups (Pa, Pb, Pc, Pd) corresponding to a same viewpoint (P) in the four image planes (a, b, c, d). For each uniqueness matching point group (Pa, Pb, Pc, Pd), three-dimensional coordinates of the viewpoint (P) may be calculated according to image coordinates of the matching point group (Pa, Pb, Pc, Pd) and parameters of a camera system. As long as a collected image is clear enough in any lighting condition, a viewed object that is imaged on an image of a planar array of a four-phase unit and has a certain image feature may undergo three-dimensional measurement with the exact same matching method and measurement method.
(FR)La présente invention appartient au domaine de la mesure électronique optique, et concerne un procédé de mise en correspondance de points caractéristiques d’un réseau plan d’une unité à quatre phases et un procédé de mesure sur la base de ce dernier. Le procédé de mise en correspondance comprend : l’utilisation d’un plan d’image parmi quatre plans d’image (a, b, c, d) comme plan d’image de base (a), et la découverte, pour un point caractéristique (Pa) sur le plan d’image de base (a), de tous les points correspondants (Pb, Pb1) qui correspondent au point caractéristique (Pa) sur un plan d’image (b) adjacents au plan d’image de base (a) dans un sens transversal ; la découverte, pour le point caractéristique (Pa) sur le plan d’image de base (a), de tous les points correspondants (Pc, Pc2}) qui correspondent au point caractéristique (a) sur un plan d’image (c) adjacents au plan d’image de base (a) dans un sens longitudinal ; la mise en correspondance à nouveau de tous les points correspondants (Pb, Pb1, Pc, Pc2) trouvés à la fois dans les sens transversal et longitudinal, et la découverte de tous les sous-groupes de points correspondants ((Pb, Pc), (Pb1, Pc2)) ; la découverte sur un plan d’image de position diagonale (d) des points correspondants (Pd, Pd3) correspondant au point caractéristique (Pa) sur le plan d’image de base (a) et la découverte de tous les sous-groupes de points mis en correspondance ((Pb, Pc), (Pb1, Pc2)) ; et la détermination de groupes de points correspondants d’unicité (Pa, Pb, Pc, Pd) correspondant au même point de visualisation (P) dans les quatre plans d’image (a, b, c, d). Pour chaque groupe de points correspondants d’unicité (Pa, Pb, Pc, Pd), les coordonnées tridimensionnelles du point de visualisation (P) peuvent être calculées selon les coordonnées d’image du groupe de points correspondants (Pa, Pb, Pc, Pd) et des paramètres d’un système photographique. Tant qu’une image recueillie est suffisamment claire dans n’importe quelle situation d’éclairage, un objet visualisé qui est imagé sur une image d’un réseau plan d’une unité à quatre phases et présente une certaine caractéristique d’image peut subir la mesure tridimensionnelle avec exactement les mêmes procédé de mise en correspondance et procédé de mesure.
(ZH)四相机组平面阵列特征点匹配方法及基于四相机组平面阵列特征点匹配方法的测量方法,属于光学电子测量领域。匹配方法包括以四个像平面(a,b,c,d)中的一个像平面为基像平面(a),对基像平面(a)上的一个特征点(P a)找出在横向方向上与该基像平面(a)相邻的像平面(b)上与该特征点(P a)匹配的所有匹配点(P b,P b1);对于基像平面上(a)的特征点(P a)找出在纵向方向上与该基像平面(a)相邻的像平面(c)上与该特征点(P a)匹配的所有匹配点(P c,P c2);将找出的横纵两个方向上所有匹配点(P b,P b1,P c,P c2)进行再匹配,找出所有子匹配点组((P b,P c), (P b1,P c2));找出对角位置像平面(d)上与基像平面(a)上的特征点(P a)以及找出的所有子匹配点组((P b,P c), (P b1,P c2))对应的匹配点(P d,P d3);确定四个像平面(a,b,c,d)中对应于同一被视点(P)的唯一性匹配点组(P a,P b,P c,P d)。对于每组唯一性匹配点组(P a,P b,P c,P d),可根据该匹配点组(P a,P b,P c,P d)的像坐标和相机系统本身的参数,计算被视点(P)的三维空间坐标。在任何光照条件下只要采集的图像足够清晰对于任何在四相机组平面阵列的图像上成像且有一定的图像特征的被视物,采用完全相同的匹配方法和测量方法均可以实现被视物的三维测量。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)