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1. (WO2018005014) INTERFERENCE AWARE BEAM SELECTION FOR NR (NEW RADIO)
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Pub. No.:    WO/2018/005014    International Application No.:    PCT/US2017/035904
Publication Date: 04.01.2018 International Filing Date: 05.06.2017
IPC:
H04B 7/06 (2006.01), H04B 7/08 (2006.01)
Applicants: INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard Santa Clara, California 95054 (US)
Inventors: DAVYDOV, Alexei; (RU).
SERGEEV, Victor; (RU).
MOROZOV, Gregory V.; (RU)
Agent: ESCHWEILER, Thomas, G.; (US)
Priority Data:
62/357,746 01.07.2016 US
Title (EN) INTERFERENCE AWARE BEAM SELECTION FOR NR (NEW RADIO)
(FR) SÉLECTION DE FAISCEAUX SENSIBLE AUX INTERFÉRENCES SERVANT À UNE NR (NOUVELLE RADIO)
Abstract: front page image
(EN)Techniques for interference-based beam selection are discussed. One example embodiment employable in a UE (User Equipment) can comprise a processor configured to: determine one or more parameters based on configuration signaling, wherein each of the one or more parameters is associated with at least one of channel measurements, interference measurements, or a beam information report; perform the interference measurements for each of one or more distinct UE beams; calculate a measurement metric for each beam pair of one or more beam pairs based on the interference measurements, wherein each beam pair comprises one of the one or more distinct UE beams and an associated NW (Network) beam; and generate the beam information report comprising the measurement metric for at least one beam pair of the one or more beam pairs.
(FR)L'invention concerne des techniques de sélection de faisceaux basée sur les interférences. Un exemple de mode de réalisation pouvant être utilisé dans un UE (équipement utilisateur) peut comprendre un processeur configuré : en vue de déterminer un ou plusieurs paramètres sur la base d'une signalisation de configuration, chacun du ou des paramètres étant associé à au moins une des mesures de canal, des mesures d'interférence ou un rapport d'informations de faisceau ; en vue d'effectuer les mesures d'interférence pour chacun d'un ou de plusieurs faisceaux d'UE distincts ; en vue de calculer une métrique de mesure pour chaque paire de faisceaux d'une ou de plusieurs paires de faisceaux sur la base des mesures d'interférence, chaque paire de faisceaux comprenant l'un parmi un ou plusieurs faisceaux d'UE distincts et un faisceau de NW (réseau) associé ; et en vue de générer le rapport d'informations de faisceau comprenant la métrique de mesure pour au moins une paire de faisceaux de la ou des paires de faisceaux.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)