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1. (WO2018004599) INTERCONNECT WITH ENHANCED RELIABILITY AND LIFETIME THROUGH RELIABILITY MONITOR AND SELF REPAIR
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Pub. No.:    WO/2018/004599    International Application No.:    PCT/US2016/040394
Publication Date: 04.01.2018 International Filing Date: 30.06.2016
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01), G01R 31/27 (2006.01)
Applicants: INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard Santa Clara, California 95054 (US)
Inventors: STANDFEST, Jihan; (US).
PATRA, Srijita; (US).
KUMAR, Suriya Ashok; (US)
Agent: GEORGE, Christopher N.; (US)
Priority Data:
Title (EN) INTERCONNECT WITH ENHANCED RELIABILITY AND LIFETIME THROUGH RELIABILITY MONITOR AND SELF REPAIR
(FR) INTERCONNEXION À FIABILITÉ ET DURÉE DE VIE AMÉLIORÉES PAR SURVEILLANCE DE FIABILITÉ ET AUTO-RÉPARATION
Abstract: front page image
(EN)Methods, apparatus, systems and articles of manufacture are disclosed to facilitate silicon interconnect monitoring and repair. An example apparatus includes a local control and allocation logic connected to a silicon interconnect. The local control and allocation logic is to evaluate operation of the silicon interconnect and generate a first output indicative of an operating characteristic of the interconnect. The example local control and allocation logic includes a ring oscillator to generate a second output based on an interaction with the interconnect; and a counter to increment a count based on the second output of the ring oscillator, the first output generated based on the count. The apparatus also includes a controller to process the first output indicative of an operating characteristic of the interconnect. The controller is to initiate repair of the interconnect when the first output does not satisfy a threshold.
(FR)L'invention concerne des procédés, un appareil, des systèmes et des articles manufacturés visant à faciliter la surveillance et la réparation d'interconnexion en silicium. Un exemple d'appareil comprend une logique locale de commande et d'allocation connectée à une interconnexion en silicium. La logique locale de commande et d'allocation sert à évaluer le fonctionnement de l'interconnexion en silicium et à générer une première sortie indiquant une caractéristique de fonctionnement de l'interconnexion. L'exemple de la logique locale de commande et d'allocation comprend un oscillateur en anneau pour générer une seconde sortie sur la base d'une interaction avec l'interconnexion; et un compteur pour incrémenter un comptage sur la base de la seconde sortie de l'oscillateur en anneau, la première sortie étant générée sur la base du comptage. L'appareil comprend également un contrôleur pour traiter la première sortie indiquant une caractéristique de fonctionnement de l'interconnexion. Le contrôleur sert à lancer la réparation de l'interconnexion lorsque la première sortie ne satisfait pas un seuil.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)