WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2018002979) ANALYSIS DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2018/002979    International Application No.:    PCT/JP2016/068949
Publication Date: 04.01.2018 International Filing Date: 27.06.2016
IPC:
G01N 23/223 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: YONEDA, Tetsuya; (JP)
Agent: KASHIMA, Yoshio; (JP)
Priority Data:
Title (EN) ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D’ANALYSE
(JA) 分析装置
Abstract: front page image
(EN)Provided is an analysis device in which it is possible to cause convergence at a set vacuum value P within a short time. An analysis device 1 provided with: a specimen chamber 10 for disposing a specimen; an analysis chamber 20 having an x-ray tube 22 and a detector 23; a gate valve 30 that switches between a linked state in which the specimen chamber 10 and the analysis chamber 20 are linked and a blocked state in which the chambers are blocked off; a vacuum pump 40 and a pressure-adjusting valve 53 that are linked to the interior of the specimen chamber 10 and the interior of the analysis chamber 20; and a control unit 60 that controls the opening/closing degree of the pressure-adjusting valve 53 so that the interior of the specimen chamber 10 and the interior of the analysis chamber 20 reach a set pressure value in the linked state, wherein the control unit 60 controls the opening/closing degree of the pressure-adjusting valve 53 so that the interior of the analysis chamber 20 reaches a set pressure value in the blocked state.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d’analyse dans lequel il est possible de causer une convergence à une valeur de vide définie P dans un temps court. Un dispositif d’analyse 1 est pourvu de : une chambre d’échantillon 10 pour distribuer un échantillon ; une chambre d’analyse 20 comportant un tube à rayons X 22 et un détecteur 23 ; un robinet-vanne 30 qui bascule entre un état lié dans lequel la chambre d’échantillon 10 et la chambre d’analyse 20 sont raccordées et un état bloqué dans lequel les chambres sont bloquées ; une pompe à vide 40 et une vanne de réglage de pression 53 qui sont reliées à l’intérieur de la chambre d’échantillon 10 et à l’intérieur de la chambre d’analyse 20 ; et une unité de commande 60 qui commande le degré d’ouverture/fermeture de la vanne de réglage de pression 53 de sorte que l’intérieur de la chambre d’échantillon 10 et l’intérieur de la chambre d’analyse 20 atteignent une valeur de pression définie dans l’état raccordé, l’unité de commande 60 commandant le degré d’ouverture/fermeture de la vanne de réglage de pression 53 de sorte que l’intérieur de la chambre d’analyse 20 atteigne une valeur de pression définie dans l’état bloqué.
(JA)設定真空値Pに短時間で収束させることができる分析装置を提供する。 試料を配置するための試料室10と、X線管22と検出器23とを有する分析室20と、試料室10内と分析室20内とを連結する連結状態か遮断する遮断状態に切替えるゲートバルブ30と、試料室10内及び分析室20内に連結される真空ポンプ40及び調圧バルブ53と、連結状態において試料室内10及び分析室20内が設定圧力値となるように、調圧バルブ53の開閉度を制御する制御部60とを備える分析装置1であって、制御部60は、遮断状態において分析室20内が設定圧力値となるように、調圧バルブ53の開閉度を制御する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)