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1. (WO2018002634) DROPLET DEPOSITION APPARATUS AND TEST CIRCUIT THEREFOR
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Pub. No.:    WO/2018/002634    International Application No.:    PCT/GB2017/051911
Publication Date: 04.01.2018 International Filing Date: 29.06.2017
IPC:
B41J 2/045 (2006.01)
Applicants: XAAR TECHNOLOGY LIMITED [GB/GB]; 316 Science Park Cambridge CB4 0XR (GB)
Inventors: BIRD, Neil Christopher; (GB).
ISLAM, Mujahid-ul; (GB)
Agent: TLIP LTD; Leeds Innovation Centre 103 Clarendon Road Leeds Yorkshire LS2 9DF (GB)
Priority Data:
1611464.7 30.06.2016 GB
Title (EN) DROPLET DEPOSITION APPARATUS AND TEST CIRCUIT THEREFOR
(FR) APPAREIL DE DÉPÔT DE GOUTTELETTES ET SON CIRCUIT DE TEST
Abstract: front page image
(EN)A test circuit to determine the capacitance of an actuator element in an actuator element array, wherein the test circuit comprises: a controller; a source to generate test inputs; measurement circuitry to measure one or more test values on a test path between the test circuit and the actuator element;wherein the controller is configured to, for a test period: control a first switch associated with the actuator element to connect the actuator element to the test path; control the source to generate a first test input; and determine a total capacitance of the actuator element from a first test value generated in response to the first test input; and determine the capacitance of the actuator element (CACT) from the total capacitance (CPAR + CACT).
(FR)La présente invention concerne un circuit de test en vue de déterminer la capacité d'un élément actionneur dans un réseau d'éléments actionneurs, le circuit de test comprenant : une unité de commande; une source en vue de générer des entrées de test; des circuits de mesure en vue de mesurer une ou plusieurs valeurs de test sur un trajet de test entre le circuit de test et l'élément actionneur; l'unité de commande étant configurée, pendant une période de test, en vue de : commander un premier commutateur associé à l'élément actionneur en vue de connecter l'élément actionneur au trajet de test; commander la source en vue de générer une première entrée de test; et déterminer une capacité totale de l'élément actionneur à partir d'une première valeur de test générée en réponse à la première entrée de test; et déterminer la capacité de l'élément actionneur (CACT) à partir de la capacité totale (CPAR + CACT).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)