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1. (WO2018001900) METHOD AND DEVICE FOR RAMAN SPECTROSCOPY
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Pub. No.: WO/2018/001900 International Application No.: PCT/EP2017/065555
Publication Date: 04.01.2018 International Filing Date: 23.06.2017
IPC:
G01N 21/65 (2006.01) ,G01J 3/44 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
65
Raman scattering
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3
Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28
Investigating the spectrum
44
Raman spectrometry; Scattering spectrometry
Applicants:
FORSCHUNGSVERBUND BERLIN E.V. [DE/DE]; Rudower Chaussee 17 12489 Berlin, DE
Inventors:
SUMPF, Bernd; DE
MAIWALD, Martin; DE
Agent:
GULDE & PARTNER PATENT- UND RECHTSANWALTSKANZLEI MBB; Wallstr. 58/59 10179 Berlin, DE
Priority Data:
10 2016 111 747.127.06.2016DE
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR RAMAN SPECTROSCOPY
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE SPECTROSCOPIE RAMAN
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR RAMAN-SPEKTROSKOPIE
Abstract:
(EN) The method comprises radiating excitation radiation (12, R1, R2) onto a sample (20) to be examined, wherein the sample (20) to be examined is irradiated at least with first excitation radiation (R1) of a first excitation wavelength (λ1) and second excitation radiation (R2) of a second excitation wavelength (λ2), wherein at least the first excitation wavelength (λ1) differs from the second excitation wavelength (λ2). Furthermore, wavelength-selective filtering of the first excitation radiation (R1') scattered by the sample (20) is carried out by means of a passive filter element (30), wherein a transmitted filter wavelength (λF) of the filter element (30) differs from at least the first excitation wavelength (λ1) and the second excitation wavelength (λ2), and wherein a first intensity (I1) is determined from the filtered first excitation radiation (R1") scattered by the sample (20) by means of a detector (40) assigned to the filter wavelength (λF). In addition, wavelength-selective filtering of the second excitation radiation (R2') scattered by the sample (20) is carried out by means of the filter element (30), wherein a second intensity (l2) is determined from the filtered second excitation radiation (R2) scattered by the sample (20) by means of the detector (40) assigned to the filter wavelength (λF).
(FR) L'invention concerne un procédé consistant à exposer un échantillon (20) à analyser à un rayonnement d'excitation (12, R1, R2), l'échantillon (20) à analyser étant exposé au moins à un premier rayonnement d'excitation (R1) présentant une première longueur d'onde d'excitation (λ1) et à un deuxième rayonnement d'excitation (R2) présentant une deuxième longueur d'onde d'excitation (λ2), au moins la première longueur d'onde d'excitation (λ1) étant différente de la deuxième longueur d'onde d'excitation (λ2). En outre, un filtrage sélectif en longueur d'onde du premier rayonnement d'excitation (R1') diffusé par l'échantillon (20) au moyen d'un élément de filtrage (30) passif est effectué, une longueur d'onde de filtrage (λF) transmise de l'élément de filtrage (30) étant différente d'au moins la première longueur d'onde d'excitation (λ1) et de la deuxième longueur d'onde d'excitation (λ2), et une première intensité (I1) étant déterminée au moyen d'un détecteur (40) associé à la longueur d'onde de filtrage (λF) à partir du premier rayonnement d'excitation (R1") filtré et diffusé par l'échantillon (20). De plus, un filtrage sélectif en longueur d'onde du deuxième rayonnement d'excitation (R2') diffusé par l'échantillon (20) au moyen de l'élément de filtrage (30) est effectué, une deuxième intensité (l2) étant déterminée au moyen du détecteur (40) associé à la longueur d'onde de filtrage (λF) à partir du deuxième rayonnement d'excitation (R2) filtré et diffusé par l'échantillon (20).
(DE) Das Verfahren umfasst das Einstrahlen von Anregungsstrahlung (12, R1, R2) auf eine zu untersuchende Probe (20), wobei die zu untersuchende Probe (20) mindestens mit einer ersten Anregungsstrahlung (R1) einer ersten Anregungswellenlänge (λ1) und einer zweiten Anregungsstrahlung (R2) einer zweiten Anregungswellenlänge (λ2) bestrahlt wird, wobei sich mindestens die erste Anregungswellenlänge (λ1) von der zweiten Anregungswellenlänge (λ2) unterscheidet. Weiterhin erfolgt eine wellenlängenselektive Filterung der von der Probe (20) gestreuten ersten Anregungsstrahlung (R1') mittels eines passiven Filterelements (30), wobei sich eine transmittierte Filterwellenlänge (λF) des Filterelements (30) von mindestens der ersten Anregungswellenlänge (λ1) und der zweiten Anregungswellenlänge (λ2) unterscheidet, und wobei durch einen der Filterwellenlänge (λF) zugeordneten Detektor (40) aus der von der Probe (20) gestreuten und gefilterten ersten Anregungsstrahlung (R1") eine erste Intensität (I1) bestimmt wird. Zudem erfolgt eine wellenlängenselektive Filterung der von der Probe (20) gestreuten zweiten Anregungsstrahlung (R2') mittels des Filterelements (30), wobei durch den der Filterwellenlänge (λF) zugeordneten Detektor (40) aus der von der Probe (20) gestreuten und gefilterten zweiten Anregungsstrahlung (R2) eine zweite Intensität (l2) bestimmt wird.
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)