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1. (WO2018001739) METHOD FOR DETERMINING A TEMPERATURE WITHOUT CONTACT, AND INFRARED MEASURING SYSTEM
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Pub. No.:    WO/2018/001739    International Application No.:    PCT/EP2017/064551
Publication Date: 04.01.2018 International Filing Date: 14.06.2017
IPC:
G01J 5/02 (2006.01), G01J 5/06 (2006.01), G01J 5/10 (2006.01)
Applicants: ROBERT BOSCH GMBH [DE/DE]; Postfach 30 02 20 70442 Stuttgart (DE)
Inventors: FRANK, Michael; (DE).
SENZ, Volkmar; (DE).
BADEJA, Michael; (DE).
RUMBERG, Axel; (DE).
KRUEGER, Michael; (DE).
DITTMER, Helge; (DE)
Priority Data:
10 2016 211 821.8 30.06.2016 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM
(EN) METHOD FOR DETERMINING A TEMPERATURE WITHOUT CONTACT, AND INFRARED MEASURING SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE SANS CONTACT D'UNE TEMPÉRATURE AINSI QUE SYSTÈME DE MESURE PAR INFRAROUGE
Abstract: front page image
(DE)Das vorgeschlagene Verfahren zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche (22), insbesondere zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperaturverteilung einer Oberfläche (22), geht aus von einem Infrarot-Messsystem (10), das zumindest aufweist: ein Infrarot-Detektorarray (36) mit einem Detektorarray-Substrat (72) und mit einer Mehrzahl von Messpixeln (62), die jeweils mit einer ersten thermischen Wärmeleitfähigkeit λMP (120) an das Detektorarray-Substrat (72) angebunden sind, wobei die Messpixel (62) für Infrarotstrahlung empfindlich sind und jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines von einer Intensität der einfallenden Infrarotstrahlung abhängigen Temperaturmesswerts TMP (66) bereitstellen, und mit einer Mehrzahl von Referenzpixeln (64), die jeweils mit einer zweiten thermischen Wärmeleitfähigkeit λBP (122) an das Detektorarray-Substrat (72) angebunden sind, und die jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines Temperaturmesswerts TBP (68) bereitstellen, und wobei das Verfahren zumindest folgende Schritte umfasst: Bestimmen der Temperaturmesswerte TBP (68) einer Mehrzahl von Referenzpixeln (64); Bestimmen der Temperaturmesswerte TMP (66) einer Mehrzahl von Messpixeln (62); Korrigieren von Temperaturmesswerten TMP (66) um jeweils eine Pixelzugehörige Temperatur-Driftkomponente Tdrift (46). Erfindungsgemäß sind die Referenzpixel (64) als für Infrarotstrahlung im Wesentlichen unempfindliche Blindpixel realisiert, wobei die zweite thermische Wärmeleitfähigkeit λBP (122) größer ist als die erste thermische Wärmeleitfähigkeit λMP (120) und die Temperatur-Driftkomponenten Tdrift (46) unter Verwendung von Temperaturmesswerten TBP (68) bestimmt werden. Ferner wird ein mit dem Verfahren betriebenes Infrarot-Messsystem (10) vorgeschlagen.
(EN)The invention relates to a method for determining a temperature of a surface (22) without contact, in particular for determining a temperature distribution of a surface (22) without contact, which method proceeds from an infrared measuring system (10) that at least has: an infrared detector array (36), having a detector array substrate (72) and having a plurality of measuring pixels (62), which are each connected to the detector array substrate (72) with a first thermal conductivity λ MP (120), wherein the measuring pixels (62) are sensitive to infrared radiation and each provide a measurement signal for determining a temperature measurement value T MP (66), which temperature measurement value depends on the intensity of the incident infrared radiation, and having a plurality of reference pixels (64), which are each connected to the detector array substrate (72) with a second thermal conductivity λ BP (122) and which each provide a measurement signal for determining a temperature measurement value T BP (68), and wherein the method comprises at least the following steps: determining the temperature measurement values T BP (68) of a plurality of reference pixels (64); determining the temperature measurement values T MP (66) of a plurality of measuring pixels (62); correcting temperature measurement values T MP (66) by a pixel-associated temperature drift component Tdrift (46). According to the invention, the reference pixels (64) are implemented as blind pixels that are substantially insensitive to infrared radiation, wherein the second thermal conductivity λ BP (122) is greater than the first thermal conductivity λ MP (120) and the temperature drift components Tdrift (46) are determined by using temperature measurement values T BP (68). The invention further relates to an infrared measuring system (10) operated by means of the method.
(FR)Le procédé de mesure sans contact de la température d'une surface (22) selon l'invention, en particulier pour la mesure sans contact du champ de température d'une surface (22), repose sur un système de mesure par infrarouge (10, 10A) comprenant au moins une matrice de détecteurs d'infrarouge (36) comportant un substrat (72), • et une pluralité de pixels de mesure (62) reliés respectivement au substrat (72) de la matrice de détecteurs avec une première conductivité thermique λ MP (120), les pixels de mesure (62) étant sensibles au rayonnement infrarouge et fournissant respectivement un signal de mesure pour déterminer une valeur de température mesurée T MP (66) dépendant de l'intensité du rayonnement infrarouge incident, et • une pluralité de pixels de référence (64) reliés respectivement au substrat (72) de la matrice de détecteurs avec une seconde conductivité thermique λ BP (122) et fournissant respectivement un signal de mesure pour déterminer une valeur de température mesurée T BP (68), ledit procédé comprenant les étapes suivantes : • détermination des valeurs de température mesurées T BP (68) d'une pluralité de pixels de référence (64); • détermination des valeurs de température mesurées T MP (66) d'une pluralité de pixels de mesure (62); • correction des valeurs de température mesurées T MP (66) par l'utilisation d'une composante de dérive de température Tdrift (46) associée aux pixels respectifs. Selon l'invention, les pixels de référence (64) sont réalisés sous forme de pixels aveugles essentiellement insensibles au rayonnement infrarouge, la seconde conductivité thermique λ BP (122) étant supérieure à la première conductivité thermique λ MP (120), et les composantes de dérive de température Tdrift (46) étant déterminées à partir de valeurs de température mesurées T BP (68). L'invention concerne également un système de mesure par infrarouge (10, 10a) fonctionnant selon ce procédé.
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)