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1. (WO2018000607) METHOD AND ELECTRONIC APPARATUS FOR IDENTIFYING TEST CASE FAILURE CAUSES
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Pub. No.:    WO/2018/000607    International Application No.:    PCT/CN2016/099946
Publication Date: 04.01.2018 International Filing Date: 23.09.2016
IPC:
G06F 11/36 (2006.01)
Applicants: LE HOLDINGS (BEIJING) CO., LTD. [CN/CN]; Room 1102, 10 Layer Building 3, 105 Yaojiayuan Road, Chao Yang District Beijing 100025 (CN).
LEMALL(BEIJING)CO., LTD [CN/CN]; Room 806, 7th Layer Building 3, No.105 Yaojiayuan Road, Chaoyang District Beijing 100025 (CN)
Inventors: YANG, Caihua; (CN)
Agent: GENUINEWAYS INC.; F3 Hong Yun Business Building, No.32, Dongsikuaiyu South Street, Dongcheng District Beijing 100061 (CN)
Priority Data:
201610509913.5 30.06.2016 CN
Title (EN) METHOD AND ELECTRONIC APPARATUS FOR IDENTIFYING TEST CASE FAILURE CAUSES
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE POUR L'IDENTIFICATION DE CAUSES DE DÉFAILLANCE DE SCÉNARIO DE TEST
(ZH) 一种识别测试用例失败原因的方法及电子设备
Abstract: front page image
(EN)A method and electronic apparatus for identifying test case failure causes. The method comprises: acquiring a test case that has failed a test and acquiring test results of the test case (101); selecting, from the test results, an effective test result corresponding to an expected result of the test case (102); comparing the effective test result with the expected result to determine whether service data of the effective test result is identical to service data of the expected result (103); and if the service data are different, recording the cause of failure of the test case as a change in service data (104). The method can remove a step of manual operation, automatically identify the cause of failure, and perform cause recording to facilitate subsequent recording of errors in the cause, thereby saving time of maintenance personnel and increasing the speed and efficiency of locating and fixing a problem.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil électronique pour l'identification de causes de défaillance de scénario de test. Le procédé comprend les étapes suivantes : acquérir un scénario de test qui a échoué à un test et acquérir des résultats de test du scénario de test (101); sélectionner, à partir des résultats de test, un résultat de test effectif correspondant à un résultat attendu du scénario de test (102); comparer le résultat de test effectif avec le résultat attendu pour déterminer si les données de service du résultat de test effectif sont identiques aux données de service du résultat attendu (103); et si les données de service sont différentes, enregistrer la cause de défaillance du scénario de test comme étant un changement dans les données de service (104). Le procédé peut éliminer une étape d'opération manuelle, identifier automatiquement la cause de défaillance, et effectuer un enregistrement de cause pour faciliter l'enregistrement ultérieur d'erreurs dans la cause, ce qui fait gagner du temps au personnel de maintenance et augmente la vitesse et l'efficacité de localisation et de résolution d'un problème.
(ZH)一种识别测试用例失败原因的方法及电子设备,其中,该方法包括:获取测试失败的测试用例,并获取测试用例的测试结果(101);在测试结果中选取出与测试用例的预期结果相对应的有效测试结果(102);对有效测试结果和预期结果进行比较处理,确定有效测试结果与预期结果中的业务数据是否相同(103);在业务数据不同时,将测试用例的失败原因标记为业务数据变化(104)。该方法省略了人工操作步骤,可以自动识别失败原因并进行原因标记,方便后续对其中的错误进行标记,节省了维护人员的工作时间,可以提高定位问题并修复问题的速度、效率。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)