WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2017200363) SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH A DEVICE FOR ACTING ON A PROBE AND A SPECIMEN
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2017/200363    International Application No.:    PCT/KZ2017/000010
Publication Date: 23.11.2017 International Filing Date: 18.05.2017
IPC:
G01Q 10/00 (2010.01), G01Q 80/00 (2010.01)
Applicants: CHASTNOE UCHREZHDENIE "NAZARBAYEV UNIVERSITY RESEARCH AND INNOVATION SYSTEM" [KZ/KZ]; Kabanbay batyr avenue 53, block 9, Esil district Astana, 010000 (KZ)
Inventors: ALEKSEEV, Alexander Mihaylovich; (KZ).
VOLKOV, Aleksey Dmitrievich; (KZ).
SOKOLOV, Dmitry Yurjevich; (RU).
EFIMOV, Anton Ebgenievich; (RU)
Agent: SUYUNDUKOV, Madi Zhmaievich; Kabanbay batyr avenue, 53, block 9 Esil district Astana, 010000 (KZ)
Priority Data:
2016/0437.1 18.05.2016 KZ
Title (EN) SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH A DEVICE FOR ACTING ON A PROBE AND A SPECIMEN
(FR) MICROSCOPE À SONDE LOCALE REGROUPÉ AVEC UN DISPOSITIF D'ACTION SUR LA SONDE ET L'ÉCHANTILLON
(RU) СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С УСТРОЙСТВОМ ВОЗДЕЙСТВИЯ НА ЗОНД И ОБРАЗЕЦ
Abstract: front page image
(EN)A scanning probe microscope combined with a device for acting on a probe and a specimen relates to measurement technology, more specifically to devices for measuring objects by probe methods after nano-sectioning. Same can be used for studying the structures of biological and polymeric specimens under low-temperature conditions. The aim of the invention is to raise the operating efficiency of elements of the measurement unit of a scanning probe microscope which is combined with a device for acting on a probe and a specimen. The technical result of the invention consists in raising the resolution of the device and the quality of the image, as well as expanding the functional capabilities of the device by examining a broader range of specimens.
(FR)Un microscope à sonde à balayage regroupé avec un dispositif d'action sur la sonde et l'échantillon appartient au domaine des équipements de mesure et plus concrètement de la mesure par procédé à sonde des objets après la nanotomie. Il peut être utilisé pour examiner les structures d'échantillons biologiques et polymérique dans des conditions de basses températures. L'objectif de l'invention consiste à augmenter l'efficacité de fonctionnement des éléments du bloc de mesure du microscope à sonde locale intégré avec un dispositif d'action sur l'échantillon et la sonde. Le résultat technique de l'invention consiste à assurer une meilleure résolution du disposif et une meilleure qualité de l'image ainsi qu'en une augmentation des fonctionnalités du dispositif grâce à l'examen d'un plus large cercle d'échantillons.
(RU)Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством воздействия на зонд и образец относится к измерительной технике, а более конкретно к устройствам измерения зондовыми методами объектов после нанотомирования. Он может быть использован для исследования структур биологических и полимерных образцов в условиях низких температур. Задача изобретения заключается в повышении эффективности функционирования элементов измерительного блока сканирующего зондового микроскопа, совмещенного с устройством воздействия на зонд и образец. Технический результат изобретения заключается в повышении разрешения устройства и качества изображения, а также в увеличении функциональные возможности устройства за счет исследования более широкого круга образцов.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Russian (RU)
Filing Language: Russian (RU)