Processing

Please wait...

Settings

Settings

Goto Application

1. WO2017200363 - SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH A DEVICE FOR ACTING ON A PROBE AND A SPECIMEN

Publication Number WO/2017/200363
Publication Date 23.11.2017
International Application No. PCT/KZ2017/000010
International Filing Date 18.05.2017
IPC
G01Q 10/00 2010.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY
10Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
G01Q 80/00 2010.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING-PROBE MICROSCOPY
80Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques
CPC
G01Q 30/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
08Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber
10Thermal environment
G01Q 30/20
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
30Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
20Sample handling devices or methods
Applicants
  • ЧАСТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "НАЗАРБАЕВ УНИВЕРСИТЕТ РИСЕЧ ЭНД ИННОВЭЙШН СИСТЭМ" CHASTNOE UCHREZHDENIE "NAZARBAYEV UNIVERSITY RESEARCH AND INNOVATION SYSTEM" [KZ]/[KZ]
Inventors
  • АЛЕКСЕЕВ, Александр Михайлович ALEKSEEV, Alexander Mihaylovich
  • ВОЛКОВ, Алексей Дмитриевич VOLKOV, Aleksey Dmitrievich
  • СОКОЛОВ, Дмитрий Юрьевич SOKOLOV, Dmitry Yurjevich
  • ЕФИМОВ, Антон Евгеньевич EFIMOV, Anton Ebgenievich
Agents
  • СУЮНДУКОВ, Мади Жмайевич SUYUNDUKOV, Madi Zhmaievich
Priority Data
2016/0437.118.05.2016KZ
Publication Language Russian (RU)
Filing Language Russian (RU)
Designated States
Title
(EN) SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH A DEVICE FOR ACTING ON A PROBE AND A SPECIMEN
(FR) MICROSCOPE À SONDE LOCALE REGROUPÉ AVEC UN DISPOSITIF D'ACTION SUR LA SONDE ET L'ÉCHANTILLON
(RU) СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С УСТРОЙСТВОМ ВОЗДЕЙСТВИЯ НА ЗОНД И ОБРАЗЕЦ
Abstract
(EN)
A scanning probe microscope combined with a device for acting on a probe and a specimen relates to measurement technology, more specifically to devices for measuring objects by probe methods after nano-sectioning. Same can be used for studying the structures of biological and polymeric specimens under low-temperature conditions. The aim of the invention is to raise the operating efficiency of elements of the measurement unit of a scanning probe microscope which is combined with a device for acting on a probe and a specimen. The technical result of the invention consists in raising the resolution of the device and the quality of the image, as well as expanding the functional capabilities of the device by examining a broader range of specimens.
(FR)
Un microscope à sonde à balayage regroupé avec un dispositif d'action sur la sonde et l'échantillon appartient au domaine des équipements de mesure et plus concrètement de la mesure par procédé à sonde des objets après la nanotomie. Il peut être utilisé pour examiner les structures d'échantillons biologiques et polymérique dans des conditions de basses températures. L'objectif de l'invention consiste à augmenter l'efficacité de fonctionnement des éléments du bloc de mesure du microscope à sonde locale intégré avec un dispositif d'action sur l'échantillon et la sonde. Le résultat technique de l'invention consiste à assurer une meilleure résolution du disposif et une meilleure qualité de l'image ainsi qu'en une augmentation des fonctionnalités du dispositif grâce à l'examen d'un plus large cercle d'échantillons.
(RU)
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством воздействия на зонд и образец относится к измерительной технике, а более конкретно к устройствам измерения зондовыми методами объектов после нанотомирования. Он может быть использован для исследования структур биологических и полимерных образцов в условиях низких температур. Задача изобретения заключается в повышении эффективности функционирования элементов измерительного блока сканирующего зондового микроскопа, совмещенного с устройством воздействия на зонд и образец. Технический результат изобретения заключается в повышении разрешения устройства и качества изображения, а также в увеличении функциональные возможности устройства за счет исследования более широкого круга образцов.
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau