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1. (WO2017198638) METHOD FOR CALIBRATING A TECHNICAL SYSTEM
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Pub. No.:    WO/2017/198638    International Application No.:    PCT/EP2017/061658
Publication Date: 23.11.2017 International Filing Date: 16.05.2017
IPC:
F02D 41/24 (2006.01)
Applicants: AVL LIST GMBH [AT/AT]; Hans-List-Platz 1 8020 Graz (AT)
Inventors: DIDCOCK, Nico; (AT).
HAMETNER, Christoph; (AT).
JAKUBEK, Stefan; (AT)
Agent: PATENTANWÄLTE PINTER & WEISS OG; Prinz-Eugen-Strasse 70 1040 Wien (AT)
Priority Data:
A50450/2016 17.05.2016 AT
Title (DE) VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES TECHNISCHEN SYSTEMS
(EN) METHOD FOR CALIBRATING A TECHNICAL SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE D’UN SYSTÈME TECHNIQUE
Abstract: front page image
(DE)Um bei der Kalibrierung eines technischen Systems auf einfache und rasche Weise die Einhaltung einer Datenhülle prüfen zu können ist vorgesehen, dass die Datenhülle (D) durch eine Funktion; Formel (I), mit Formel (II) und einem vorgegebenen Zentrum (c) der Datenpunkte (Xn), oder Formel (III), mit einer radialen Basisfunktion ( ϕ ) und Koffezienten (cn), modelliert wird und der Testpunkt (Zj) als innerhalb der Datenhülle (D) angesehen wird, wenn die Bedingung Formel (IV) oder Formel (V), mit vorgegebenem Öffnungswinkel (cp) oder vorgegebener Konturlinie (f ), erfüllt wird.
(EN)In order to be able to check the compliance with a data envelope in a simple and rapid manner when calibrating a technical system, provision is made for the data envelope (D) to be modelled by a function - formula (I) with formula (II) and a predefined centre (c) of the data points (Xn), or formula (III) with a radial base function (ϕ) and coefficients (cn), and for the test point (Zj) to be considered to be within the data envelope (D) if the condition in formula (IV) or formula (V) with a predefined opening angle (cp) or a predefined contour line (f) is satisfied.
(FR)L’invention vise à ce qu’il soit possible de vérifier de manière simple et rapide la conformité d'une enveloppe de données lors de l’étalonnage d'un système technique. À cet effet, l’enveloppe de données (D) est modélisée par une fonction : formule (I) avec la formule (II) et un centre prédéfini (c) des points de données (Xn), ou formule (III) avec une fonction de base radiale ( ϕ ) et les coefficients (cn) ; et le point de test (Zj) est considéré comme étant à l’intérieur de l’enveloppe de données (D) si la condition formule (IV) ou formule (V) est remplie pour un angle d’ouverture (cp) prédéfini ou une ligne de contour (f) prédéfinie.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)