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1. (WO2017196749) CORRELATION OF STACK SEGMENT INTENSITY IN EMERGENT RELATIONSHIPS
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Pub. No.:    WO/2017/196749    International Application No.:    PCT/US2017/031594
Publication Date: 16.11.2017 International Filing Date: 08.05.2017
IPC:
G06F 11/34 (2006.01), G06F 11/36 (2006.01)
Applicants: ORACLE INTERNATIONAL CORPORATION [US/US]; 500 Oracle Parkway M/S 5OP7 Redwood Shores, California 94065 (US)
Inventors: CHAN, Eric S.; (US)
Agent: LIN, Eric; (US).
SHAFFER, William L.; (US).
KOTWAL, Sujit; (US).
MATHISON, Mark; (US).
GRAY, Charles; (US).
AUSTIN, Shelton W.; (US).
BENNETT, Jesse S.; (US).
BERGSTROM, James T.; (US).
SAAB, Karam; (US).
SWEHLA, Aaron; (US).
SRIPATHY, Kanchan; (US).
SHAH, Mehul; (US).
KUSHA, Babak; (US).
DORAN-CIVAN, Neslihan I.; (US).
ROTHWELL, Rodney; (US).
BRISNEHAN, Brian; (US).
FU, Zhenhai; (US).
DUVAL, Dan; (US).
BRADFORD, Sara; (US).
UY, Ruthleen; (US).
FRANKLIN, Thomas; (US).
GAUDRY, Katherine; (US).
MORSE, Kyle; (US).
BAKER, Amanda; (US).
MESSER, Dion; (US).
VADERA, Sameer; (US).
HAYIM, Samuel; (US).
WANG, Xiaoyu; (US).
KANZAKI, Kim; (US).
MCGUIRE, JR., John; (US).
BAGGALEY, Nicholas; (US).
CHENG, Charles; (US).
GELBLUM, Michael; (US).
SUTTON, Eric; (US).
NICHOLES, Christian A.; (US).
WEBER, Eric; (US).
HUTCHINS, Eric; (US)
Priority Data:
62/333,786 09.05.2016 US
62/333,798 09.05.2016 US
62/333,804 09.05.2016 US
62/333,809 09.05.2016 US
62/333,811 09.05.2016 US
62/340,256 23.05.2016 US
15/588,521 05.05.2017 US
15/588,523 05.05.2017 US
15/588,526 05.05.2017 US
15/588,531 05.05.2017 US
Title (EN) CORRELATION OF STACK SEGMENT INTENSITY IN EMERGENT RELATIONSHIPS
(FR) CORRÉLATION D'INTENSITÉ DE SEGMENT DE PILE DANS DES RELATIONS ÉMERGENTES
Abstract: front page image
(EN)Certain techniques are disclosed for sequentially analyzing a series of thread dump samples to estimate the intensity statistics of newly classified stack segments of stack frames. Embodiments can detect a branch point along one or more linearly connected stack frames of a stack segment, where the stack segment is associated with a filter state. Upon detecting the branch point along the one or more linearly connected stack frames of the stack segment, some embodiments can split the stack segment into a plurality of new stack segments that each include a subset of the stack frames, where the plurality of new stack segments are referenced by the stack segment. Embodiments can then initialize a filter state for each of the new stack segments based at least in part on the filter state of the stack segment.
(FR)La présente invention porte sur certaines techniques permettant d'analyser de façon séquentielle une série d'échantillons de vidage de fil pour estimer les statistiques d'intensité de segments de pile récemment classés de blocs de pile. Des modes de réalisation peuvent détecter un point de branchement le long d'un ou de plusieurs blocs de pile reliés de manière linéaire d'un segment de pile, le segment de pile étant associé à un état de filtre. Lors de la détection du point de branchement le long du ou des blocs de pile reliés de manière linéaire du segment de pile, certains modes de réalisation peuvent diviser le segment de pile en une pluralité de nouveaux segments de pile qui comprennent chacun un sous-ensemble de blocs de pile, la pluralité de nouveaux segments de pile étant référencés par le segment de pile. Des modes de réalisation peuvent ensuite initialiser un état de filtre pour chaque nouveau segment de pile en se basant, au moins en partie, sur l'état de filtre du segment de pile.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)