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1. (WO2017195025) AN INTEGRATED CIRCUIT WITH COMPENSATION FOR ERRORS INDUCED BY SELF-HEATING IN COMPONENTS
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Pub. No.:    WO/2017/195025    International Application No.:    PCT/IB2017/000596
Publication Date: 16.11.2017 International Filing Date: 09.05.2017
IPC:
H03M 1/06 (2006.01), H03M 1/74 (2006.01)
Applicants: ANALOG DEVICES GLOBAL [IE/--]; 3rd Floor, Par La Ville Place 14, Par La Ville Road Hamilton (BM)
Inventors: DEMPSEY, Dennis A.; (IE).
COLN, Michael C.W.; (US)
Agent: THOMPSON, Andrew; Withers & Rogers, LLP 4 More London Riverside London SE1 2AU (GB)
Priority Data:
15/150,910 10.05.2016 US
Title (EN) AN INTEGRATED CIRCUIT WITH COMPENSATION FOR ERRORS INDUCED BY SELF-HEATING IN COMPONENTS
(FR) CIRCUIT INTÉGRÉ AVEC RÉDUCTION DE VARIATION SUR PUCE
Abstract: front page image
(EN)Many electronic circuits rely on the ratio of one component to other components being well defined. Current flow in component can warm the component causing its electrical properties to change, for example the resistance of a resistor may increase due to self heating as a result of current flow. The present disclosure provides a way to reduce temperature variation between components so as to reduce electrical mismatch between them or the consequences of such mismatch. This is important as even a change of resistance of, for example, 20 - 50 ppm in a resistor can result in non-linearity exceeding the least significant bit value of a 16 bit digital to analog converter.
(FR)De nombreux circuits électroniques reposent sur la bonne définition du rapport d'un composant à d'autres composants. La circulation du courant dans le composant peut chauffer le composant, ce qui provoque une modification de ses propriétés électriques, par exemple la résistance d'une résistance peut augmenter en raison d'un auto-chauffage en raison de la circulation du courant. La présente invention concerne une manière de réduire les variations de température entre les composants de manière à réduire le défaut d'appariement électrique entre ceux-ci ou les conséquences d'un tel défaut d'appariement. Ceci est important du fait que même un changement de résistance, par exemple, de 20 à 50 ppm dans une résistance peut entraîner une non-linéarité dépassant la valeur de bit le moins significatif d'un convertisseur numérique-analogique à 16 bits.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)