WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2017194201) A METHOD OF INSPECTING THE QUALITY OF BLANKS, IN PARTICULAR OF BLANKS TO BE PROCESSED INTO PACKAGING MATERIAL, AND QUALITY INSPECTION SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2017/194201    International Application No.:    PCT/EP2017/025119
Publication Date: 16.11.2017 International Filing Date: 11.05.2017
IPC:
G06T 7/00 (2017.01), G06K 9/62 (2006.01), G06K 9/03 (2006.01)
Applicants: BOBST MEX SA [CH/CH]; Route de Faraz 3 1031 MEX (CH)
Inventors: PORRET, Olivier; (CH).
BELLINO, Mario; (CH).
ALONSO, Jeronimo; (CH).
TOMA, Claude; (CH)
Priority Data:
16169645.5 13.05.2016 EP
Title (EN) A METHOD OF INSPECTING THE QUALITY OF BLANKS, IN PARTICULAR OF BLANKS TO BE PROCESSED INTO PACKAGING MATERIAL, AND QUALITY INSPECTION SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION DE QUALITÉ DE FLANS, EN PARTICULIER DE FLANS DEVANT ÊTRE TRAITÉS EN MATÉRIAU D'EMBALLAGE, ET SYSTÈME D'INSPECTION DE QUALITÉ
Abstract: front page image
(EN)The invention provides a method of inspecting the quality of blanks (2n), in particular of blanks (2n) to be processed into packaging material, comprising the following steps: A carrier (1) with a plurality of blanks (2n) is supplied. Each blank (2n) is identified in accordance with its position (n) on the carrier (1), and a scanned image (Sn) of each blank (2) is obtained, and each scanned image (Sn) is compared with a reference image (Rn) associated with the specific position (n) of the blank (2n) from which the image was taken. Based on the result of the comparison, the respective blank (2n) is accepted or rejected. Furthermore, the invention provides a quality inspection system (10) comprising a digital imaging unit (12) for scanning images of blanks (2n) on a sheet (1), a unit (16) for generating individual reference images for each blank, a storage (18) for storing the individual reference images (Rn), and a comparator (20) for comparing scanned images (Sn) of a blank with the individual reference image (Rn) for this blank (2n).
(FR)L'invention concerne un procédé permettant d'inspecter la qualité de flans (2n), en particulier de flans (2n) qui doivent être traités en matériau d'emballage. Ledit procédé comprend les étapes suivantes : un support (1) comprenant une pluralité de flans (2n) est fourni. Chaque flan (2n) est identifié en fonction de sa ou de ses positions sur le support (1) et une image balayée (S n) de chaque flan (2) est obtenue, puis chaque image balayée (Sn) est comparée à une image de référence (Rn) associée à la position ou aux positions spécifiques du flan (2n) à partir desquelles l'image a été prise. D'après le résultat de la comparaison, le flan respectif (2n) est accepté ou rejeté. De plus, l'invention concerne un système d'inspection de qualité (10) comprenant : une unité d'imagerie numérique (12) permettant de balayer des images de flans (2n) sur une feuille; une unité (16) permettant de générer des images de référence individuelles pour chaque flan; un dispositif de stockage (18) permettant de stocker les images de référence individuelles (Rn); et un comparateur (20) permettant de comparer les images balayées (Sn) d'un flan avec l'image de référence individuelle (Rn) pour ce flan (2n).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)