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1. (WO2017193520) ELECTRON CLUSTER STATE ENTANGLEMENT CONCENTRATION METHOD AND DEVICE
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Pub. No.:    WO/2017/193520    International Application No.:    PCT/CN2016/099535
Publication Date: 16.11.2017 International Filing Date: 21.09.2016
IPC:
H04B 10/70 (2013.01)
Applicants: ZTE CORPORATION [CN/CN]; ZTE Plaza Keji Road South, Hi-Tech Industrial Park Nanshan, Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Inventors: LIU, Jiong; (CN)
Agent: LUNG TIN INTELLECTUAL PROPERTY AGENT LTD.; 18th Floor, Tower B No.5 Huizhong Road, Chaoyang District Beijing 100101 (CN)
Priority Data:
201610304575.1 10.05.2016 CN
Title (EN) ELECTRON CLUSTER STATE ENTANGLEMENT CONCENTRATION METHOD AND DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CONCENTRATION D’ENCHEVÊTREMENT DE L’ÉTAT D’UN GROUPE D’ÉLECTRONS
(ZH) 电子群态纠缠浓缩方法和装置
Abstract: front page image
(EN)The present invention provides an electron cluster state entanglement concentration method and device. The method comprises: obtaining a first initial entanglement cluster state to undergo an entanglement concentration process, and generating a first auxiliary electronic state according to information of the first initial entanglement cluster state; performing with a polarizing beam splitter a non-destructive measurement of the first auxiliary electronic state and a first electron in the first initial entanglement cluster state; determining, by a charge detector, whether a result of the non-destructive measurement has odd parity; if the result of the non-destructive measurement has odd parity, processing electrons in a predetermined spatial mode to obtain a cluster state having maximum entanglement; if the result of the non-destructive measurement has even parity, separating, by a second polarizing beam splitter, two electrons in the same spatial mode into two spatial modes, and processing the separated electrons in the predetermined spatial mode to obtain a second initial entanglement cluster state to be used in a subsequent round of the entanglement concentration process. The method increases the probability of successful electron cluster state entanglement concentration.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un dispositif de concentration d’enchevêtrement d’états d’un groupe d’électrons. Le procédé comprend les étapes suivantes : l’obtention d’un premier état de groupe à enchevêtrement initial à soumettre à un processus de concentration d’enchevêtrement et la génération d’un premier état électronique auxiliaire selon des informations du premier état de groupe à enchevêtrement initial ; la réalisation, avec un répartiteur de faisceau polarisant, d’une mesure non destructive du premier état électronique auxiliaire et d’un premier électron dans le premier état de groupe à enchevêtrement initial ; le fait de déterminer, par un détecteur de charge, si un résultat de la mesure non destructive a une parité impaire ; si le résultat de la mesure non destructive a une parité impaire, le traitement des électrons dans un mode spatial prédéterminé pour obtenir un état de groupe ayant un enchevêtrement maximal ; si le résultat de la mesure non destructive a une parité paire, la séparation, par un second répartiteur de faisceau polarisant, de deux électrons dans le même mode en deux modes spatiaux, et le traitement des électrons séparés dans le mode spatial prédéterminé pour obtenir un second état de groupe à enchevêtrement initial à utiliser dans un cycle subséquent du processus de concentration d’enchevêtrement. Le procédé augmente la probabilité de concentration réussie d’enchevêtrement d’états de groupe d’électrons.
(ZH)本发明提出了一种电子群态纠缠浓缩方法和装置。其中,方法包括:获取待进行纠缠浓缩的第一初始纠缠群态,根据第一初始纠缠群态的信息生成第一辅助电子态;根据第一极化分束器对第一辅助电子态和第一初始纠缠群态中的第一电子进行非破坏性测量;通过电荷探测器判断非破坏性测量的结果是否为奇宇称;如果非破坏性测量的结果为奇宇称,则对预设空间模式的电子进行处理,获取最大纠缠群态;如果非破坏性测量的结果为偶宇称,则通过第二极化分束器使在同一个空间模式的两个电子被分到两个空间模式上,并对分离后预设空间模式的电子进行处理,获取第二初始纠缠群态进行下一轮纠缠浓缩处理。该方法提高了电子群态纠缠浓缩的成功概率。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)