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1. (WO2017191803) DATA PROCESSING DEVICE
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Pub. No.:    WO/2017/191803    International Application No.:    PCT/JP2017/016736
Publication Date: 09.11.2017 International Filing Date: 27.04.2017
IPC:
G01N 30/86 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01), G01N 30/72 (2006.01), G01N 30/74 (2006.01), G01N 35/00 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: YANAGISAWA, Toshinobu; (JP).
HORIE, Kanta; (JP)
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
2016-092591 02.05.2016 JP
Title (EN) DATA PROCESSING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE DONNÉES
(JA) データ処理装置
Abstract: front page image
(EN)A data processing device for processing three-dimensional data comprising time, intensity and wavelength and that has been collected with regards to a sample subjected to measurement, wherein the data processing device is provided with: a chromatogram generation means 23 for generating a chromatogram from the three-dimensional data; a target peak determination means 24 for determining a target peak from peaks present on the chromatogram; a time specification means 25 for specifying the time at which the size of the spectrum is equal to the size of a reference spectrum, from a time range in which the target peak is present, in the three-dimensional data; and a target spectrum generation means 26 for extracting data corresponding to the aforementioned time from the three-dimensional data and thereby generating the spectrum at said time. It is thereby possible to easily and reliably obtain, from three-dimensional data obtained by a sample analysis, a spectrum that is free from distortion, saturation, and the effects of noise.
(FR)L'invention concerne un dispositif de traitement de données permettant de traiter des données tridimensionnelles comprenant le temps, l'intensité et la longueur d'onde et qui ont été collectés par rapport à un échantillon soumis à une mesure, le dispositif de traitement de données comportant : un moyen de génération de chromatogramme (23) permettant de générer un chromatogramme à partir des données tridimensionnelles ; un moyen de détermination de pic cible (24) permettant de déterminer un pic cible à partir de pics présents sur le chromatogramme ; un moyen de spécification de temps (25) permettant de spécifier le temps auquel la taille du spectre est égale à la taille d'un spectre de référence, à partir d'une plage de temps dans laquelle le pic cible est présent, dans les données tridimensionnelles ; et un moyen de génération de spectre cible (26) permettant d'extraire des données correspondant au temps susmentionné à partir des données tridimensionnelles et générant ainsi le spectre audit temps. Il est ainsi possible d'obtenir facilement et de manière fiable, à partir de données tridimensionnelles obtenues par une analyse d'échantillon, un spectre qui est exempt de distorsion, de saturation et des effets du bruit.
(JA)測定対象である試料について収集された、時間、強度、及び波長から成る3次元データを処理するデータ処理装置において、前記3次元データからクロマトグラムを生成するクロマトグラム生成手段23と、前記クロマトグラム上に存在するピークの中から目的ピークを決定する目的ピーク決定手段24と、前記3次元データにおいて、前記目的ピークが出現している時間範囲の中からスペクトルの大きさが参照スペクトルの大きさと等しくなる時刻を特定する時刻特定手段25と、前記時刻におけるデータを前記3次元データから抽出することにより該時刻におけるスペクトルを生成する目的スペクトル生成手段26とを設ける。これにより、試料分析により得られた3次元データから歪みや飽和及びノイズの影響のないスペクトルを容易且つ確実に得ることができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)