WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2017190288) INTRA-PICTURE PREDICTION USING NON-ADJACENT REFERENCE LINES OF SAMPLE VALUES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.:    WO/2017/190288    International Application No.:    PCT/CN2016/080966
Publication Date: 09.11.2017 International Filing Date: 04.05.2016
IPC:
H04N 19/61 (2014.01)
Applicants: MICROSOFT TECHNOLOGY LICENSING, LLC [US/US]; One Microsoft Way Redmond, WA Washington 98052 (US)
Inventors: LI, Bin; (CN).
XU, Jizheng; (CN).
LI, Jiahao; (CN)
Agent: SHANGHAI PATENT & TRADEMARK LAW OFFICE, LLC; 435 Guiping Road Shanghai 200233 (CN)
Priority Data:
Title (EN) INTRA-PICTURE PREDICTION USING NON-ADJACENT REFERENCE LINES OF SAMPLE VALUES
(FR) PRÉDICTION INTRA-IMAGES À L'AIDE DE LIGNES DE RÉFÉRENCE NON-ADJACENTES DE VALEURS D'ÉCHANTILLON
Abstract: front page image
(EN)Innovations in intra-picture prediction with multiple candidate reference lines available are described herein. For example, intra-picture prediction for a current block uses a non-adjacent reference line of sample values to predict the sample values of the current block. This can improve the effectiveness of the intra-picture prediction when the reference line of sample values that is adjacent the current block includes significant capture noise, significant quantization error, or significantly different values (compared to the current block) due to an occlusion. Innovations described herein include, but are not limited to, the following: intra-picture prediction with multiple candidate reference lines available; encoding/decoding of reference line indices using prediction; filtering of reference sample values; residue compensation weighted prediction; mode-dependent padding to replace unavailable reference sample values; using in-loop-filtered reference sample values; encoder-side decisions for selecting reference lines; and post-filtering of predicted sample values.
(FR)La présente invention concerne des innovations dans la prédiction intra-images avec de multiples lignes de référence candidates disponibles. Par exemple, une prédiction intra-images pour un bloc courant utilise une ligne de référence non-adjacente de valeurs d'échantillon afin de prédire les valeurs d'échantillon du bloc courant. Cela peut améliorer l'efficacité de la prédiction intra-images lorsque la ligne de référence des valeurs d'échantillon qui est adjacente au bloc courant comprend un bruit de capture significatif, une erreur de quantification significative, ou des valeurs différentes significativement (par rapport au bloc actuel) en raison d'une occlusion. Les innovations décrites en l'espèce comprennent, sans s'y limiter, les étapes suivantes : la prédiction intra-images avec de multiples lignes de référence candidates disponibles ; le codage/le décodage d'indices de ligne de référence à l'aide d'une prédiction ; le filtrage des valeurs d'échantillon de référence ; la prédiction pondérée de compensation de résidu ; le remplissage en fonction du mode afin de remplacer des valeurs d'échantillon de référence indisponibles ; l'utilisation de valeurs d'échantillon de référence filtrées en boucle ; des décisions du côté du codeur pour sélectionner des lignes de référence ; et le post-filtrage de valeurs d'échantillon prédites.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)