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1. (WO2017189944) METHODS FOR CORRECTING OTOACOUSTIC EMISSION MEASUREMENTS
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Pub. No.: WO/2017/189944 International Application No.: PCT/US2017/030020
Publication Date: 02.11.2017 International Filing Date: 28.04.2017
IPC:
A61B 5/12 (2006.01) ,A61B 5/0484 (2006.01) ,G01H 15/00 (2006.01)
Applicants: MASSACHUSETTS EYE AND EAR INFIRMARY[US/US]; 243 Charles Street Boston, Massachusetts 02114, US
Inventors: CHARAZIAK, Karolina; US
SHERA, Christopher; US
Agent: FASSE, J. Peter; US
Priority Data:
62/328,88128.04.2016US
Title (EN) METHODS FOR CORRECTING OTOACOUSTIC EMISSION MEASUREMENTS
(FR) PROCÉDÉS DE CORRECTION DE MESURES D'OTO-ÉMISSION ACOUSTIQUE
Abstract: front page image
(EN) The methods disclosed herein enable calculating otoacoustic emission (OAE) pressure independent of the acoustic load imposed by the ear canal and the OAE probe measurement system, e.g., for hearing tests. The OAE pressure is calculated in a form of either the first outgoing wave at the eardrum, referred as emitted pressure level (PEPL), or as a Thvenin-equivalent OAE source pressure level (PTPL) at the eardrum, as derived from a simple tube model of an ear canal. In both methods the OAE sound pressure level (PSPL), ear canal reflectance (REC), OAE probe source reflectance (RS), and one-way ear canal delay (τ) are measured at the entrance of the ear canal with the OAE probe. In contrast to PSPL, both methods result in an emission pressure that is not confounded by the effects of the residual ear canal space or the impedance of the OAE measurement system.
(FR) Les procédés de la présente invention permettent de calculer la pression d'oto-émission acoustique (OAE) indépendamment de la charge acoustique imposée par le conduit auditif et du système de mesure de sonde OAE, par exemple pour des tests auditifs. La pression OAE est calculée sous la forme de la première onde sortante au niveau du tympan, appelée niveau de pression émis (P EPL), ou sous la forme d'un niveau de pression de source OAE équivalent de Thévenin (P TPL) au niveau du tympan, tel que dérivé d'un modèle de tube simple d'un conduit auditif. Dans les deux procédés, le niveau de pression sonore OAE (P SPL), la réflectance de conduit auditif (R EC), la réflectance de source de sonde OAE (R S), et un retard de conduit auditif unidirectionnel (τ) sont mesurés à l'entrée du conduit auditif avec la sonde OAE. Contrairement à P SPL, les deux procédés conduisent à une pression d'émission qui n'est pas parasitée par les effets de l'espace de conduit auditif résiduel ou l'impédance du système de mesure OAE.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)