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1. (WO2017187651) DETACHED OBSERVATION CANDIDATE IDENTIFICATION DEVICE, DETACHED OBSERVATION CANDIDATE IDENTIFICATION METHOD, AND DETACHED OBSERVATION CANDIDATE IDENTIFICATION PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau    Submit observation

Pub. No.: WO/2017/187651 International Application No.: PCT/JP2016/074261
Publication Date: 02.11.2017 International Filing Date: 19.08.2016
IPC:
G06F 11/07 (2006.01)
Applicants: MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION[JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP
Inventors: YAMADA, Koichi; JP
HANDA, Akira; JP
Agent: MIZOI, Shoji; JP
YAMAKI, Mitsutaka; JP
Priority Data:
2016-08802926.04.2016JP
Title (EN) DETACHED OBSERVATION CANDIDATE IDENTIFICATION DEVICE, DETACHED OBSERVATION CANDIDATE IDENTIFICATION METHOD, AND DETACHED OBSERVATION CANDIDATE IDENTIFICATION PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'IDENTIFICATION DE CANDIDAT D'OBSERVATION DÉTACHÉ, PROCÉDÉ D’IDENTIFICATION DE CANDIDAT D’OBSERVATION DÉTACHÉ ET PROGRAMME D’IDENTIFICATION DE CANDIDAT D’OBSERVATION DÉTACHÉ
(JA) 静観候補特定装置、静観候補特定方法及び静観候補特定プログラム
Abstract: front page image
(EN) A configuration similarity calculation unit (25) treats, among faults which have occurred with a system to be monitored (50), a fault for which a response is not required as a subject fault, assesses whether a comparison source element, which is a constituent element of the system to be monitored (50) whereupon the subject fault has occurred, is a match for each attribute with comparison object elements, which are other constituent elements of the system to be monitored (50), and calculates configuration similarities for the comparison object elements using the attributes which are assessed to match and a contribution which is assigned for each of the attributes. On the basis of the calculated configuration similarities, a candidate identification unit (27) identifies a detached observation candidate, which is a constituent element candidate for which a response is not required if the subject fault has occurred.
(FR) Selon l'invention, une unité de calcul de similarité de configuration (25) traite, parmi les défauts qui se sont produits avec un système à surveiller (50), un défaut pour lequel aucune réponse n'est nécessaire en tant que défaillance d'un sujet ; elle évalue si un élément de source de comparaison, qui représente un élément constitutif du système à surveiller (50) sur lequel le défaut du sujet s'est produit, est une correspondance pour chaque attribut avec des éléments d'objet de comparaison, qui sont d'autres éléments constitutifs du système à surveiller (50) ; et elle calcule des similarités de configuration pour les éléments d'objet de comparaison à l'aide des attributs qui sont évalués pour correspondre, ainsi que d'une contribution qui est assignée pour chacun des attributs. Sur la base des similarités de configuration calculées, une unité d'identification de candidat (27) identifie un candidat d'observation détaché, qui représente un candidat d'élément constitutif pour lequel aucune réponse n'est requise si le défaut du sujet s'est produit.
(JA) 構成類似計算部(25)は、監視対象システム(50)で発生した障害のうち、対応不要であった障害を対象障害として、対象障害が発生した監視対象システム(50)の構成要素である比較元要素と、監視対象システム(50)の他の構成要素である比較先要素とについて属性毎に一致するか否かを判定し、一致すると判定された属性と各属性に対して割り当てられた寄与度とを用いて比較先要素についての構成類似度を計算する。候補特定部(27)は、計算された構成類似度に基づき、対象障害が発生した場合に対応不要とする構成要素の候補である静観候補を特定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)