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1. (WO2017185141) A METHOD AND SYSTEM FOR IDENTIFYING AND MEASURING A DEFECT THAT REDUCES TRANSPARENCY IN A SUBSTRATE FOR A SECURITY DOCUMENT
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Pub. No.:    WO/2017/185141    International Application No.:    PCT/AU2017/050392
Publication Date: 02.11.2017 International Filing Date: 28.04.2017
IPC:
G06T 7/00 (2017.01)
Applicants: CCL SECURE PTY LTD [AU/AU]; 1-17 Potter Street Craigieburn, Victoria 3064 (AU)
Inventors: STEVENS, Ben Paul; (AU).
PHILLIPS, Darren; (AU)
Priority Data:
2016100492 29.04.2016 AU
Title (EN) A METHOD AND SYSTEM FOR IDENTIFYING AND MEASURING A DEFECT THAT REDUCES TRANSPARENCY IN A SUBSTRATE FOR A SECURITY DOCUMENT
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'IDENTIFICATION ET DE MESURE D'UN DÉFAUT QUI RÉDUIT LA TRANSPARENCE DANS UN SUBSTRAT POUR DOCUMENT DE SÉCURITÉ
Abstract: front page image
(EN)A method of measuring a defect level of a region of a substrate for a security document, wherein the defect level is associated with reduced transparency of the region of the substrate, the method including the steps of: digitally imaging the region to create a digital image, the digital image containing light intensity data; and analysing the digital image including: calculating a statistical measure of the light intensity data in the region; and assigning a defect score to the region based on the statistical measure of the light intensity data in the region.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure d'un niveau de défaut d'une région d'un substrat destiné à un document de sécurité, le niveau de défaut étant associé à une transparence réduite de la région du substrat, le procédé comprenant les étapes consistant à: acquérir numériquement une image de la région pour créer une image numérique, l'image numérique contenant des données d'intensité lumineuse; et analyser l'image numérique, ce qui comprend les étapes consistant à: calculer une mesure statistique des données d'intensité lumineuse dans la région; et affecter un score de défaut à la région en fonction de la mesure statistique des données d'intensité lumineuse dans la région.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)