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1. (WO2017184420) OPTICAL SYSTEM FOR REFERENCE SWITCHING
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Pub. No.:    WO/2017/184420    International Application No.:    PCT/US2017/027353
Publication Date: 26.10.2017 International Filing Date: 13.04.2017
IPC:
G01J 3/02 (2006.01), G01J 3/36 (2006.01), G01J 3/42 (2006.01), G01J 3/10 (2006.01), G01N 21/25 (2006.01)
Applicants: BRIBBLA DYNAMICS LLC [US/US]; Corporation Trust Center 1209 Orange Street Wilmington, DE 19801 (US)
Inventors:
Agent: NGUYEN, Jean; (US).
BASOL, Erol, C.; (US).
BLUMENKOPF, Bryan; (US).
BLUMENTHAL, David, A.; (US).
ESPINOZA, Carlos; (US)
Priority Data:
62/325,908 21.04.2016 US
Title (EN) OPTICAL SYSTEM FOR REFERENCE SWITCHING
(FR) SYSTÈME OPTIQUE POUR COMMUTATION DE RÉFÉRENCE
Abstract: front page image
(EN)Systems and methods for determining one or more properties of a sample are disclosed. The systems and methods disclosed can be capable of measuring along multiple locations and can reimage and resolve multiple optical paths within the sample. The system can be configured with one-layer or two-layers of optics suitable for a compact system. The optics can be simplified to reduce the number and complexity of the coated optical surfaces, etalon effects, manufacturing tolerance stack-up problems, and interference-based spectroscopic errors. The size, number, and placement of the optics can enable multiple simultaneous or non- simultaneous measurements at various locations across and within the sample. Moreover, the systems can be configured with an optical spacer window located between the sample and the optics, and methods to account for changes in optical paths due to inclusion of the optical spacer window are disclosed.
(FR)La présente invention concerne des systèmes et des procédés de détermination d'une ou plusieurs propriétés d'un échantillon. Les systèmes et les procédés de l'invention peuvent permettre de mesurer le long d'emplacements multiples et peuvent réimager et résoudre des trajets optiques multiples dans l'échantillon. Le système peut être configuré avec une couche ou deux couches d'optique adaptées pour un système compact. L'optique peut être simplifié de façon à réduire le nombre et la complexité des surfaces optiques revêtues, des effets d'étalon, des problèmes d'empilement de tolérance de fabrication et des erreurs spectroscopiques à base d'interférence. La taille, le nombre et le placement des optiques peuvent permettre des mesures multiples simultanées ou non simultanées à différents emplacements à travers et dans l'échantillon. De plus, les systèmes peuvent être configurés avec une fenêtre d'espacement optique située entre l'échantillon et les optiques, et l'invention concerne en outre des procédés pour prendre en compte des changements dans les trajets optiques dus à l'inclusion de la fenêtre d'espacement optique.
Designated States: AU, BR, CN, DE, GB, IN, JP, KR, MX, US.
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)