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1. (WO2017184336) MULTI-WAVELENGTH LIDAR SYSTEM
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Pub. No.:    WO/2017/184336    International Application No.:    PCT/US2017/026109
Publication Date: 26.10.2017 International Filing Date: 05.04.2017
IPC:
G01S 17/93 (2006.01), H01S 3/23 (2006.01), G05D 1/02 (2006.01)
Applicants: OPSYS TECH LTD [IL/IL]; Azrieli Center Holon 26 Harokmim Street Building A, 8th Floor 5885849 Holon (IL)
Inventors: DONOVAN, Mark J.; (US)
Agent: RAUSCHENBACH, Kurt; (US)
Priority Data:
62/326,576 22.04.2016 US
62/396,295 19.09.2016 US
15/456,789 13.03.2017 US
Title (EN) MULTI-WAVELENGTH LIDAR SYSTEM
(FR) SYSTÈME LIDAR À LONGUEURS D'ONDES MULTIPLES
Abstract: front page image
(EN)A multi-wavelength LIDAR system includes a first laser source that generates a first optical beam having a first wavelength and a second laser source that generates a second optical beam having a second wavelength. An optical element projects the first optical beam to form a first beam profile at a target plane and projects the second optical beam to form a second beam profile at the target plane. An optical receiver generates a first wavelength signal corresponding to the received reflected portion of the first beam profile and generates a second wavelength signal corresponding to the reflected portion of the second beam profile at the target plane. A controller generates a measurement point cloud from the first and second wavelength signals, wherein an angular resolution of the measurement point cloud depends on a relative position of the first and second beam profiles at the target plane.
(FR)Un système LIDAR à longueurs d'ondes multiples comprend une première source laser qui génère un premier faisceau optique ayant une première longueur d'onde et une seconde source laser qui génère un second faisceau optique ayant une seconde longueur d'onde. Un élément optique projette le premier faisceau optique de façon à former un profil du premier faisceau au niveau d'un plan cible et projette le second faisceau optique de façon à former un profil du second faisceau au niveau du plan cible. Un récepteur optique génère un premier signal de longueur d'onde correspondant à la partie réfléchie reçue du profil du premier faisceau et génère un second signal de longueur d'onde correspondant à la partie réfléchie du profil du second faisceau au niveau du plan cible. Un dispositif de commande génère un nuage de points de mesures à partir des premier et second signaux de longueur d'onde. Une résolution angulaire du nuage de points de mesures dépend d'une position relative des profils des premier et second faisceaux au niveau du plan cible.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)